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Digitaltest藉大陸參展推薦自家測試方案

上網時間: 2005年02月16日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Digitaltest GmbH  Digitaltest  Nepcon Shanghai  上海國際電子生產設備暨微電子產業展  MTS 180 In-Circuit Tester 

電子測試和生產解決方案供應商Digitaltest GmbH日前表示,將與兩家亞洲合作夥伴一道,於即將舉行的上海國際電子生產設備暨微電子產業展(Nepcon)上,提供客戶如何讓電子製造商在測試方面能最大化其投資報酬之方案。

Digitaltest公司為自己的MTS系統提供協同測試,透過在生產周期的初期階段最佳化測試策略,讓OEM廠商、合約製造商以及他們的合作夥伴加速產品上市時間,減少測試成本,並提高產品品質。

MTS180是Digitaltest公司針對大量產的經濟解決方案,該設備配有一個Press-Down單元和結合類比和混合功能的In-Circuit測試探針,這是MTS180所獨有的。而且,這個測試設備能裝備功能測試模組,可以提供較高的錯誤涵蓋率檢測,滿足客戶大量的測試要求。該系統能裝備最多2000個類比或者1600個混合探針,提供合理大小的平台。

MTS300 SIGMA In-Circuit測試設備針對目前的系統測試要求:靈活性、高錯誤涵蓋率和容易編程。同時,由於其模組化的設計,MTS300 SIGMA能按目前所需進行配置,並不會限制未來擴充的可能性。





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