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LogicVision嵌入式測試方案鎖定奈米級SoC設計

上網時間: 2005年06月13日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:logicvision  lv2005  nanometer design  奈米設計  nanometer 

LogicVision公司近日推出一款針對奈米設計與測試的嵌入式測試解決方案LV2005。該方案整合了新的測試與診斷功能,提供了更高水平的可用性,可使用戶進一步為其奈米級SoC設計增強ROI。該流程含有獨特的測試資源最佳化功能,因此可為用戶產品設計配置嵌入式測試,而無需專家測試知識。

隨著奈米級設計變化,半導體製造商正面臨著日益增加的微小缺陷機制和製程設計雙重壓力,因而導致不斷增加的性能和品質問題。這些問題不僅引起成品率的降低,同時還造成除錯周期的延長,進而影響到產品的上市。LV2005是一款RTL級自動流程,可提供易用和完善的的嵌入式測試功能,將所有嵌入式測試功能整合在了前端設計過程中。

在該測試套件改進的功能當中採用了採用突發模式(Burst-Mode)新專利技術的測試定時架構,易於將LogicVision的嵌入式邏輯測試(Embedded Logic Test,ELT)技術整合在設計當中,並為細微的延遲缺陷、訊號完整性等問題提供檢測功能,新的專利技術Embedded SerDes測試功能還能提供亞皮秒級的測試精密度,僅需數毫秒就能完成。





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