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新款DFM軟體試圖解決隨機缺陷問題

上網時間: 2005年12月14日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:缺陷  佈局  良品率  可製造性設計  代工 

為了提高IC的可製造性設計(DFM)水準,Predictions Software公司發佈了PEYE Yield Finder工具,該工具可以確定IC佈局中可能會引起良率問題的特殊形狀或圖形。

Predictions Software公司之前的一款工具叫EYES,它能透過佈局樣本預測每個取樣位置的晶片良率。EYES的輸入是GDSII文件和代工廠特定的製程缺陷數據。由於這些數據通常是專有的,因此EYES主要出售給整合元件製造商(IDM)或代工廠。

目前,大多數DFM工具都使用設計規則平台,Predictions Software公司副總裁Dan Nenni指出。一些DFM工具可以完成佈線擴展,或增加觸點和過孔,但這些功能都屬於‘封閉式’的DFM功能,而EYES則更進一步,可以讓用戶查看隨機的缺陷。

“DFM的下一個水準是所謂的系統設計缺陷。”Nenni表示,“新的PEYE Yield Finder工具可以查看設計本身和設計架構,並確定哪些是損害良率的因素,哪些部份應該從設計中去除等等。”

PEYE Yield Finder只能查找用戶要求它查找的部份。用戶可以採用布爾方程或Perl腳本告訴該工具哪種形狀可能會損害良率。通常,這些資訊來自於代工廠,不過有些類型的佈局結構已經確知會引起良率問題。

舉例來說,在靠近多晶矽閘的一個有效區域內如果有彎曲就會導致設計中的系統故障。其它可能的問題包括寬線和窄間距的組合。用戶可以採用不同的加權係數來指示哪些問題是最嚴重的。

PEYE Yield Finder只發現問題,它並不進行修復。用戶可以使用第三方的佈局編輯器完成修改。據Nenni透露,該工具可以與Cadence的Virtuoso編輯器相鏈接,而且Predictions Software公司還在開發與其它工具的介面。

PEYE Yield Finder工具的輸入包括GDSII佈局文件、製程資訊和已確認的可能會損害良率的佈局結構。與EYES不同,它不需要代工缺陷數據,因此能更方便地被無晶圓廠設計師使用。

PEYE Yield Finder一般用於模組級,它能處理GDSII程式碼容量高達1GB的模組,Nenni指出。雖然EYES是一款晶片級統計工具,但PEYE Yield Finder可以做幾何圖形的關鍵區域分析。這兩款工具是相互獨立的,但也可以一起使用以幫助設計師避免良率問題。




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