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新興公司推出能在晶圓內插入測試結構的IP

上網時間: 2006年04月20日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Stratosphere  Stratosphere Solutions  IC可變性特色化  variability characterization  測試結構 

許多的可製造性設計(DFM)新興企業承諾能協助設計師最大化良率,並控制製程可變性,但所有起點都取決於代工廠提供統計參數特色化的能力。因此,新興公司Stratosphere Solutions推出了能在晶圓內插入測試結構IP,以解決上述問題。

Stratosphere Solutions由技術長Jim Bordelon和首席策略長Prashant Maniar創立於2004年。「我們公司的重點是解決參數可變性問題,」Maniar表示。「我們關注的是晶片內的變化,即放置到晶片兩個不同部位的電晶體由於接近效應、摻雜波動或線邊緣粗糙度的作業有何不同?」

Maniar指出,其它DFM和針對良率設計(design-for-yield,DFY)公司著重於微影模擬或在建模上進行化學機械拋光。「他們遺漏了絕不可少的資料類型。」

Stratosphere Solutions將推出的StratoPro是IP和軟體的合成產品,嵌入了代工廠用於描述製程可變性的測試結構。該公司還計畫年底推出良率建模環境,允許代工廠為設計師提供全面的良率模型,無需洩漏商業秘密。StratoPro現已可供應,起價35萬美元。

(Richard Goering)




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