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安捷倫針對PCIe 2.0標準推出探量解決方案

上網時間: 2007年06月05日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:PCIe 2.0  模擬試驗器  插槽界接探測器 

安捷倫科技(Agilent)的E2960B系列新近針對PCI Express (PCIe) 2.0標準,推出業界第一套x16的模擬試驗器(exerciser)和插槽界接探測器(slot interposer)探量解決方案。加入這些新產品後,Agilent E2960B系列現在可以提供業界需要的可擴充及整合式分析儀和模擬試驗器解決方案,能針對PCI Express 1.0和2.0的所有鏈接寬度和速度等級,以非侵入的方式量測PCIe信號、進行標準的激發測試和跨系統分析。

高速序列技術仍持續發展中,繼續推出新一代的PCIe通訊協定。PCIe 2.0的速度快了一倍,由2.5Gbps增加為5Gbpss,可以滿足繪圖等高效能應用對頻寬的更高需求,也可以讓現有的應用在改用較少接腳數的同時,也能保有原來的傳輸頻寬。安捷倫科技專為PCI Express推出的E2960B系列是工程師想要成功轉進新一代技術的首選工具,可同時提供分析解決方案和激發解決方案,協助有效率地成功設計出PCI Express的裝置或系統。

安捷倫表示,對於需要分析PCI Express系統的工程師來說,慎選可靠的探量解決方案極為重要。除了備受肯定、採用Soft Touch技術的Midbus Probe 2.0以外,安捷倫科技也針對PCI Express 2.0,提供Agilent N5315A插槽界接探測器,可支援最高到x16的所有鏈接寬度。

此外,增強過的E2960B系列套裝軟體可檢視資料交易互動的情形,提供更精簡易讀的流量資訊,且會以可擴展的單列方式,將屬於某特定資料交易的所有封包摘要列出。這套軟體採用安捷倫科技精密複雜的搜尋引擎,可進行點對點傳輸(ad-hoc)除錯,幾乎能立即提供搜尋的結果,免去除錯過程中冗長的等待時間。

當工程師需要激發解決方案,以便快速又有效率地測出PCIe裝置的鏈接訓練反應,或是功能強大的解決方案,以便將裝置逼至極限狀態時,Agilent PCIe模擬試驗器是唯一可以同時測試PCI Express裝置或系統的工具。

交易層測試和資料鏈接層測試需要同時使用LTSSM (Link Training and Status State Machine)測試儀和模擬試驗器。x1到x16的LTSSM測試儀可以在所有通道上,以原速產生各種訓練序列,運用預先設定好的測試,有效地進行鏈接協商測試,現在能涵蓋和測試到LTSSM的更多部份。

x1到x16的模擬試驗器是一套功能完善且可以隨意設定激發條件的解決方案,能在所有的鏈接寬度下,進行root-complex模擬、端點模擬、以及附加卡測試。此模擬試驗器也提供記憶體資料比較、電源管理支援、以及含錯誤信號的DLLP傳輸等功能,提供另一等級的PCI Express 2.0驗證測試能力。

適用於PCI Express 2.0的Agilent E2960B系列能縮減功能,以解決目前PCI Express 1.0的測試需求,需要時,也可以擴充功能以符合PCI Express 2.0的測試之需。E2960B系列採模組式的設計,可以保障客戶的投資,因為它能提供各種建構區塊的選擇,如分析儀、模擬試驗器、兩種速度等級(第二代已達2.5Gbps,全速為5Gbps)、所有的鏈接寬度(x1、x4、x8、x16)、可擴充用於交互觸發的Protocol to Logic (P2L)閘道器、標記(marker)關聯,以及通訊協定和邏輯分析儀之間的旗標(flag)功能。




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