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Verigy為V93000 SoC測試機台新增RF量測方案

上網時間: 2007年07月09日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:SoC測試  V93000  Port Scale 

惠瑞捷(Verigy)的V93000 SoC測試機台推出Port Scale射頻(RF)測試解決方案。這套新的解決方案可提供經濟、有效又可靠的射頻量測能力,是測試新式的高整合度元件(內含射頻、混合信號、數位、電源管理以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路),以及低整合度射頻收發器所不可或缺的工具。

惠瑞捷針對V93000 SoC測試系統開發Port Scale射頻測試解決方案,是為了因應無晶圓廠半導體設計公司、整合元件製造商,以及半導體委外封裝及測試公司目前和未來的需求。該公司表示,目前射頻的應用已十分普遍,從行動電話到衛星導航設備、調諧器(Tuner)和機上盒(Set-top Box)等各式各樣的無線裝置和通訊應用都會用到射頻元件。另外,支援WiMAX、WLAN、Bluetooth及UWB等標準的桌上型及筆記型電腦也會用到含有射頻電路的元件。

過去射頻元件都是一個個單獨的零件,現在將多個射頻零件整合在單一顆IC中已愈來愈常見。同樣地,諸如行動電話等裝置的設計需符合多個地區採用的標準,如GSM/CDMA、CDMA2000、EDGE和EV-DO。因此過去只要包含一組接收器的設計現在經常得包含多達四組或更多組射頻收發器。

當這些不同的射頻通訊標準全部整合在單一個射頻電路中時,會大幅提高測試的挑戰性。惠瑞捷預先看到了這種新的測試需求,瞭解客戶不論面對的是高整合度或低整合度的射頻元件,都希望儘可能維持最低的測試成本(COT),因而著手開發出Port Scale射頻測試解決方案。

Port Scale射頻測試解決方案的設計採用固態半導體元件,因此所有的射頻資源都位在V93000的測試頭中。不同於其它採用速度慢的外接設備的解決方案,Port Scale是以高速的固態半導體元件為基礎所設計的射頻測試解決方案,完全不會減損速度、性能或量測準確度。

這套解決方案可以配置12、24或48個射頻測試埠,只要配備了24個射頻測試埠,即可提供真正四組元件同測(Quad-site)的能力,而其高效率的多元件(Multi-site)並行測試能力也解決了高整合度元件需要更多測試埠的測試問題,具有最高的測試效率,可將測試成本降到最低。Port Scale射頻測試解決方案具備的高性能、準確又穩定的量測能力,以及號稱業界最低的雜訊底線(低至-161 dBm/Hz)可滿足愈來愈嚴苛的性能、良率及成本要求。

Port Scale射頻測試解決方案可提供整合的類比和射頻測試能力與測試流程,以及可逐步進行的除錯工具,縮短測試開發時間。惠瑞捷新增了快速又準確的“單鍵”執行功能,可進行智慧型校準,並且採用功能強大的Eclipse軟體環境,以檢視動作中的硬體運作情形,讓使用者透過簡單明瞭的圖形,查看射頻量測區塊圖,並可將射頻測試設定輸出為測試方法的樣版。採用固態半導體元件的射頻設計加上V93000獨特的水冷式架構在大部分開發階段的測試計畫中,都不需要進行校準。

Port Scale射頻測試解決方案包含下列模組卡及套件:射頻訊號源模組卡──10MHz~6GHz的儀器等級(Instrument-quality)訊號產生器;射頻前端模組卡──每一片可提供12個射頻測試埠;射頻介面──可提供高密度、穩定可靠的射頻介面,以介接到客戶的測試載板(Load Board)和探針卡(Probe Card);MB AV8模組卡──提供四組任意波形產生器(AWG)核心以及四組數位轉換器(Digitizer)核心;48埠的射頻校準套件──一組套件最多可支援十套射頻系統。




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