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Agilent光纖極化解決方案可提供極化參數特性描述

上網時間: 2007年08月24日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:光纖  極化 

安捷倫科技(Agilent Technologies)針對光纖元件和系統的研發與製造,在旗下的光纖測試組合中加入6款新的極化分析與控制解決方案。這些新產品可讓研究與設計人員對所有極化相關參數進行完整的特性描述。安捷倫將在2007年9月17~19日於德國柏林國際會議中心舉辦的歐洲光纖通訊展(ECOC)中首次展示這些產品,其皆以安捷倫在2007年購併的Adaptif Photonics的技術為基礎。

N7781A是一款高速極化分析儀,它具備了分析光纖訊號的極化特性之完整能力,包括邦加球(Stokes參數)的極化狀態(SOP)再現。而N7782A PER分析儀是為了以高速及準確度來測試PM光纖的極化消光比(PER)而設計。即時量測能力加上自動化介面,適合整合至製造系統,例如光纖元件的引線處理台。

N7783A熱循環裝置完全由Agilent N7782A PER分析儀所控制,它可為待測光纖提供穩定的溫度循環。新的極化控制器系列N7784A、N7785A和N7786A,即使輸入SOP因溫度偏移和機械穩定過程而產生波動和偏移,也能提供穩定的輸出SOP。這可以提升校準和調整過程的速度與可靠度。Agilent N7786A內建一個偏極計,可提供高速極化分析能力;在每秒1M個取樣的取樣率下可擷取超過50萬個取樣。

N7788A元件分析儀的專屬技術可媲美光纖元件瓊斯矩陣本徵分析(Jones-Matrix-Eigenanalysis,JME)或差動群組延遲(DGD)。安捷倫新的單一掃描技術提供了一組完整的參數,包括DGD/PMD/PDL/二階PMD、功率/損耗、TE/TM損耗、主極化狀態(PSP)、及Jones和Mueller矩陣,這些全都整合在一台測試儀器中。




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