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福雷電子採購惠瑞捷設備提供射頻測試服務

上網時間: 2008年03月06日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:射頻測試  V93000  Port Scale 

半導體測試設備供應商惠瑞捷(Verigy)宣佈,福雷電子(ASE Test)已採購Verigy Port Scale射頻 (RF)測試解決方案,測試客戶的高整合度無線通訊元件。福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠(IDM)及IC設計公司提供各種測試服務。

Port Scale射頻測試解決方案具備高性能,再加上V93000機台所具備的擴充性,是Port Scale射頻測試解決方案獲福雷電子青睞採用的原因。日月光集團營運長吳田玉表示,福雷的客戶已經採用V93000 Port Scale射頻測試解決方案,測試最新的手機晶片組。惠瑞捷業務與服務支援副總裁Pascal Ronde則表示,福雷電子今後亦可以為客戶測試各種複雜的射頻系統單晶片(RF-SoC)以及射頻系統級封裝(RF-SiP) IC,包括最新的3G和4G技術。

Verigy V93000是一套可擴充的機台架構,能用以測試系統單晶片、系統級封裝、以及高速記憶體元件。該內建射頻測試能力的系統在全球安裝的數量已超過1,500套,不論是進行原速(At-speed)的工程特性量測或是大量的生產製造,皆可解決業者在性能及成本上面臨的挑戰。

這套測試系統可提供大規模的多接點(Multi-site)測試能力,能支援高達12.8Gbps的資料速率,以及各種數位、混合信號、射頻及無線通訊的應用,如蜂巢式通訊、WLAN、WiMAX及UWB等,對降低測試成本助益極大。




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