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新科金朋採惠瑞捷的射頻測試解決方案

上網時間: 2008年07月04日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:V93000  Port Scale  測試 

新科金朋(STATS ChipPAC)採購惠瑞捷(Verigy)Port Scale射頻(RF)測試解決方案,以測試高整合度的無線射頻元件

Verigy V93000是一套可擴充的機台架構,能用以測試系統單晶片(SoC)、系統級封裝(SIP)、以及高速記憶體元件。能解決業者在進行原速(At-speed)的工程特性量測或是大量生產測試的性能及成本上面臨的嚴苛挑戰。

Port Scale射頻測試解決方案可為整合元件(內含射頻、混合訊號、數位、電源管理、以及嵌入式或堆疊式記憶體等電路),提供高效率的多元件(Multi-site)測試能力以及所需的測試埠數。這套測試系統可提供大規模的多元件測試能力,支援高達12.8Gbps的資料速率,以及各種數位、混合訊號、射頻及無線通訊的應用,如蜂巢式通訊、WLAN、WiMAX及UWB等。





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