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華邦選用惠瑞捷V5400測試快閃記憶體晶圓

上網時間: 2008年12月17日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:V5400  快閃記憶體  SpiFlash 

惠瑞捷(Verigy Ltd.)公司宣佈,記憶體供應商華邦電子(Winbond Electronics)已採購多套Verigy V5400快閃記憶體測試系統,供台中廠使用,以測試SpiFlash序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面 (SPI),廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中。

V5000系列記憶體測試系統是一套完整的解決方案,從工程開發到大量生產,可解決所有的記憶體測試需求。V5000系列採可擴充的機台架構,並將測試系統的資源做最佳化的利用,因此,能有效率地測試所有的記憶體類型,有效解決各式各樣的記憶體測試問題。

可程式化介面矩陣技術可提供極高的接腳數(24,576隻接腳)、最強的平行測試能力 (x512 NAND、x512 NOR、x576 SPI和x384 MCP)、以及最高的測試系統利用率,如針對快閃記憶體的晶圓測試提供多達4608個I/O通道,且每套系統可以做彈性的配置,最多可測試144個元件。因此,相較於傳統的快閃記憶體測試系統,可以大幅降低測試成本。

V5000並採用第五代的Tester-per-Site架構,可以讓客戶完整地移轉測試程式且能保持原有的穩定性,從設計、晶圓到終程等不同的測試階段,皆能以超高的效率移轉測試程式。

華邦電子選擇V5400的原因在於該快閃記憶體測試系統的成本低於其它系統,且V5400測試系統在台灣安裝的數量相當龐大,更容易提供客戶需要的服務。華邦電子原本即已採用惠瑞捷V5000系列旗下的V5000e工程開發工作站,現在,只要將既有的測試程式移轉到V5400系統上,即可執行高效率的量產測試。





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