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Tektronix推Superspeed USB測試方案

上網時間: 2009年06月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:USB  USB-TX  DSA70000B 

Tektronix推出適用於Superspeed USB (USB 3.0)裝置特性分析、除錯和自動化相容性測試的工具組,新的USB-TX選項搭配DPO/DSA70000B示波器,提供可驗證USB 3.0發送器裝置的單鍵式解決方案。該公司亦推出USB 3.0測試治具,讓工程師能夠執行準確的「發送器」、「接收器」和「纜線」測試。

USB-TX可支援標準測試以及具有資訊參考性的所有測試,如展頻時脈(SSC)、迴轉率、電壓位準及其他測試項目。其他可用的解決方案僅支援特定相容性標準,而Tektronix USB-TX卻可提供完整且全面的特性分析、除錯和相容性工具組。

選項USB-TX建置於TekExpress平台系統,專用於高速串列資料標準的自動化單鍵測試。TekExpress模組是以標準組織指定與公佈的測試需求和「實作方法」(MOI)為基礎。所有測試步驟均採自動化,使客戶僅需選擇想要的測試,即可獲得含有通過/失敗與邊際分析結果的完整報告。除了全新的USB 3.0產品外,目前亦推出支援SATA和DisplayPort的自動化模組。

此外,Tektronix USB3.0測試解決方案整合獨一無二的插座型式測試治具,能在探測時盡可能接近矽晶,以提供最真實的代表性訊號。





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