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Computex:Anritsu分享LTE測試最新趨勢

上網時間: 2010年06月07日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Anritsu  NGN 2010  Computex  LTE  測試儀器 

測試儀器供應商 Anritsu 參與2010年台北國際電腦展(Computex Taipei)期間舉行的 NGN 2010 論壇;該公司副總裁高橋敏彥表示,Anritsu一直以來致力於通訊產品測試儀器研發,在 LTE測試儀器上早已深耕許久,並參加NGMN、3GPP、GCF Forum以及TM Forum等等全球性的組織,希望能對業界廠商在 LTE 產品的開發生產上有所幫助。

高橋敏彥指出,行動通訊產品的研發通常可以分為數個不同的階段,如軟硬體程式開發、整合測試、一致性測試、應用程式測試以及系統業者認證測試等等,在未來的LTE產品開發亦也不例外,而對於每個測試階段,Anritsu皆有對應的解決方案。

許多國家及電信業者規定,通過一致性測試 (Conformance Testing) 是LTE手機是否能在其區域內否販售的重要依據,而一致性測試早在 GSM 以及 WCDMA 產品中實施許久,其依據3GPP所制定的測試準則及項目,對於手機的收發及效能 (TRx and Performance)、無線資源管理 (RRM)以及信令 (Protocol) 部份進行驗證,目的是希望手機在進入實體網路前,先確保其功能皆能符合全球性的規範,以免其功能異常影響網路內正常使用者,亦或造成整個網路系統不穩定。

由於以上因素,許多國家及電信業者相當重視一致性測試,故Anritsu在一致性測試方面,投入相當多的人力和資源,ME7873A+L 信令一致性測試系統和ME7873F+L 射頻一致性系統皆為Anritsu開發來進行一致性測試的完整方案,高橋敏彥表示,Anritsu在LTE的測試上,會提供最完整快速的測試方案,來幫助LTE產品開發業者降低產品開發的時間。





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