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NI發表2012年嵌入式系統與自動化測試展望報告

上網時間: 2012年03月15日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:嵌入式系統  自動化測試  展望報告  NI  2012年 

美商國家儀器(NI)發表了 2012 年「嵌入式系統展望報告」與「自動化測試展望報告」,分別列出多家公司的結論與嵌入式系統產業的方向,以及最新測試/量測技術成果。

NI的「嵌入式系統展望報告」報告針對新一代嵌入式系統的開發作業,列出科技與商業層面的相關趨勢。能源、運輸、生命科學、工業級控制等公司,均可針對多種嵌入式監控應用而利用此份資訊。透過此份報告,工程師與經理人可策略性的建構最佳實例,以利開發並維護創新的嵌入式系統。

NI的2012年「嵌入式系統展望報告」提及下列主要趨勢:行動裝置與雲端--在新一代的嵌入式系統中,設計團隊將延伸利用新款行動裝置與雲端技術。透過軟體滿足未來需求──由於嵌入式系統的需求與標準不斷改變,設計團隊將傾向以「軟體優先」的前提而升級產品。 小型團隊亦可達到創新目標──小型設計團隊將為公司建立更高效率的方法,縮短創新概念的上市時程。可重設的運算──高階嵌入式監控系統正逐漸增加可程式化邏輯的比重。嵌入式平台──技術廠商所開發的平台,亦企圖整合硬體與軟體框架,以協助設計團隊建立複雜的嵌入式系統。

2012年NI「自動化測試展望報告」則說明多個產業的趨勢,包含通訊、汽車、半導體、航太/國防、醫療裝置、消費性電子。透過此份報告,工程師與管理階層將可了解最新策略,另有測試作業的最佳化實例。此份報告共分為 5 大項:商業策略、架構、運算、軟體、I/O。並將討論下列主要趨勢:

測試組織最佳化──各家公司均審慎評估測試工程與戰略性資產,以期能於高競爭性的環境中殺出一片天。設計流程中的量測與模擬──以完整模型搭配實際量測,將提升產品品質並縮短開發時間。PCI Express外部介面──電腦內部的高速、低潛時匯流排,可強化外接介面而提升新的系統拓撲。行動裝置迅速普及──目前幾乎已達「人手一支智慧型手機,所有背包都裝了1 台平板電腦」的情況,同時正改變著測試系統的監控方式。可攜的量測演算法──新的工具將僅需開發一組量測 IP,卻佈署到各式各樣的處理元件中。

2012 自動化測試展望報告,是根據學術/產業研究、使用者討論/調查、業務情報、客戶建言所歸納而得。此份報告所提供的資料,將可協助建構未來的產業趨勢與技術,以期解決測試產業的業務與技術難題。自動化測試報告屬於 NI Test Leadership Council 的一部份。NI 將跨越不同產業領域,與全球數千位的客戶合作出最佳實例,最後再與大家分享。

NI Test Leadership Council 的方式是邀請測試產業的領導廠商齊聚一堂一同討論,如此也得以得知商業與技術的重要資訊。Test Leadership Council包含技術交流、互動網路、領導廠商高峰會等活動。





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