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愛德萬T2000 IMS解決方案為微控制器測試降低成本

上網時間: 2012年11月19日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:T2000  IMS  平行測試  微控制器  TAS7500 

愛德萬(Advantest)宣佈推出全新 T2000 整合式大量平行測試(IMS)解決方案,採用通用腳位架構,只需單一系統即可支援大規模的平行測試,為內建整合類比電路與嵌入式快閃記憶體電路的微控制器(MCU)測試實現最低成本。

Advantest全新 IMS 解決方案的平行同步測試能力達256個元件,提供高產出與高速功能,平行測試效率超過99%。此機台採通用接腳架構,可管理208個不同通道的資源,提供最佳彈性。

愛德萬SoC測試事業體執行長暨執行副總裁Toshiyuki Okayasu表示,全新 T2000 IMS 系統高效率大量平行測試能力,將有助於在要求成本效益的微控制器(MCU)與智慧卡晶片領域中擴大市佔率。這套系統的最大優勢在於它採用通用接腳架構,完全有別於其他自動化測試設備公司的設計,這些公司採用多套模組,且以極複雜的效能電路板管理這些模組,才能達到Advantest一體化 IMS 模組相同的成效。

Advantest的設計使效能電路板化繁為簡,不但降低測試成本,同時也因為通用接腳架構讓效能電路板更易於維護,這點對於海外生產據點來說,尤其有助於避免一再發生製造成本問題。

此外,愛德萬公司並宣佈其兆赫波(THz)光譜/造影系統 TAS7500 獲安斯泰來製藥公司(Astellas Pharma Inc.)採用。 TAS7500 系統採用非破壞、非接觸式光譜分析與造影成像技術,可對藥品內部結構 (無論液狀、粉狀或固體劑型) 進行分析並檢測其結晶狀、化學成份、密度及其他特性,亦能針對錠劑膜衣厚度、密度分佈及多層壓製錠橫切面進行 2D 與 3D 造影。

安斯泰來製藥的藥物研究暨技術實驗中心資深研究員Wataru Momose表示:「 TAS7500 體積小,非常適合放在桌上作業,它提供了十分實用的光譜分析(穿透光譜、反射光譜、衰減全反射 (ATR))和造影功能,並兼具高穩定性、高速量測的性能表現。儘管近紅外光光譜儀與拉曼光譜儀2是目前使用最多的兩大 PAT1 工具,不過採用 THz 技術的 TAS7500 對於提升藥物研發效率來說是相當有幫助的。」





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