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愛德萬全新數位模組提升SoC元件測試效率

上網時間: 2014年07月04日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:T2000  元件測試  數位模組  T2000 1.6GDM  FTA+ 

愛德萬測試(Advantest)發表可提升 T2000 測試平台進行系統單晶片(SoC)元件測試效率的全新數位模組 T2000 1.6GDM 。

這套模組每秒傳輸速率可達1.6GB,它利用新開發的 FTA+ (Functional Test Abstraction Plus) 功能自動辨識通訊協定,讓測試平台能以每顆IC不同的通訊協定語言直接與待測物(DUT)通訊,在資料傳輸過程中,透過強大的EDA連結功能FTA-Elink使設計模擬器直接與T2000測試平台連結。

不僅如此,Verilog程式碼也能在安裝1.6GDM模組的 T2000 EPP 系統上執行。 T2000 測試平台的圖形產生器(Pattern Generator)搭載擁有獨立計時與記憶功能之自動辨識通訊協定引擎,能夠直接量測透過通訊協定傳輸資料的I/O,高效率執行多組元件同測,使研發時間相對大幅縮短,進而加速產品上市。

搭載1.6GDM的多功能 T2000 EPP 可提高多組待測物(DUT)平行同測效能,並能獨立監控和評估各待測物的功能。

這套全新數位模組提供了向量模式,不僅完全相容於愛德萬測試現有1GDM數位模組,且在產能與穩定性表現上皆優於現有模組。 T2000 1.6GDM 模組預計八月開始出貨。





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