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安捷倫與Cascade聯手協助工程師簡化RF測試

上網時間: 2014年07月10日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:晶圓級  射頻量測  RF  WMS  WaferPro-XP 

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣佈與Cascade Microtech設立策略聯盟,雙方將共同提供經過完整配置與驗證的晶圓級射頻量測解決方案,以協助工程師加速進行晶圓級半導體量測。同時,兩家公司還共同提供保證配置、安裝和支援服務。

建構晶片級射頻量測系統時,從產品挑選到系統配置,都極具挑戰性,而且非常耗時。客戶通常需要向多家供應商採購設備,然後還要親自到場進行系統配置和驗證,因此需等上很長一段時間才能開始第一次量測。利用安捷倫和Cascade Microtech共同提供的晶圓級量測解決方案(WMS),半導體客戶可透過立即可用的設備,執行準確且可重複的直流和射頻量測、元件特性分析和建模,大幅縮短從採購一直到第一次量測的時間。

新的晶圓級量測解決方案結合Cascade Microtech的晶圓探針台、探針和校驗工具,以及安捷倫的測試儀器和量測與分析軟體。每套解決方案在出廠前會預先進行配置驗證,確保其符合客戶的特定應用需求。接著,在Cascade Microtech解決方案專家進行安裝之前,還會再次根據先前議定的驗收標準進行驗證。「保證配置」是指如果解決方案中少了任何元件,安捷倫或Cascade Microtech保證免費提供這些元件。

安捷倫和Cascade Microtech並攜手合作,共同提供基於安捷倫 WaferPro-XP 測試軟體的獨特工作流程解決方案軟體。如結合使用 Cascade Microtech 的 Velox 探針台軟體,客戶可在一個一致的測試開發環境中,發展可滿足各種量測需求(如S參數、DC-IV/CV、雜訊係數、閃爍雜訊和增益壓縮)的完整晶圓測試套件。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示:「安捷倫與Cascade Microtech均為量測與晶圓探量解決方案之全球領導廠商,可提供建構晶圓級元件測試系統時不可或缺的專業技術與功能。在兩家公司通力合作並各自提供最出色解決方案下,我們以前所未見的全新交貨模式,為彼此共同的半導體客戶,提供與眾不同的晶圓級量測解決方案。」

Cascade總裁暨執行長Michael Burger表示:「半導體製程開發、建模和特性分析等技術正與時俱進,而產品上市時程正不斷縮短。此外,客戶對準確度的要求也越來越高。藉由與安捷倫攜手合作以提供有保證的晶圓級量測解決方案,我們可協助半導體工程師利用所有必備工具,對元件和裝置執行快速而準確的先進DC和RF量測,以實現加速產品上市的目標。」

安捷倫和Cascade Microtech的晶圓級射頻量測解決方案現在提供多種配置,包括配備半自動或手動探棒的新型整合式解決方案,以及將現有探針台進行硬體升級的選項。安捷倫新的 WaferPro-XP 測試軟體平台可加入現有的晶圓級量測解決方案中,以協助工程師在研發階段對各種元件進行評估。該解決方案的定價取決於客戶指定的配置。每個晶圓級量測解決方案都有完整的支援套件為後盾。客戶如有任何問題,可就近聯繫晶圓上測試解決方案專家。





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