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PXI自動化測試平台引領設計系統創新

上網時間: 2014年08月05日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Pete Zogas  圖形化系統設計  PXI  HIL  ECU 

當今測試工程師正面對待測物(DUT)更換速度快、功能測項目與複雜度增加的挑戰,為此,美商國家儀器(NI)資深副總裁Pete Zogas在日前舉辦的 PXI TAC 2014上強調,透過圖形化系統設計搭配 PXI 平台,可望有效簡化系統複雜度,快速建置出客製化自動化量測平台。

NI為今年所主辦的 PXI TAC 採取了有別於以往的舉辦模式,除了台北場外,更巡迴至新竹和台南,同時針對各區不同需求以及應用,提供相對的解決方案,創新且客制化的舉辦方式,期望讓新、舊客戶對 PXI平台有進一步的認識。

今年的 PXI TAC 主軸以多元應用為出發點,不論是研究單位、半導體、無線通訊、車用等應用領域,皆可藉由 PXI 建構更快速、低成本且精準的系統。在今年的活動中,NI 資深副總裁 Pete Zogas 指出:當今客戶所面臨的問題,不僅在待測物更換速度快,同時功能測項也同時增加。但系統若因此而更加複雜,整個系統效能將被影響,因此透過圖形化系統設計的方式,搭配 PXI 平台,將可有效的簡化系統複雜度。透過NI PXI平台,客戶可以在短時間內,以簡單、有效率的方式,快速建置出客製化自動化量測平台。

同時在活動會場中, NI 更分享各領域的成功方案。當中最為有名的即是日本車廠 Subara 油電混合車使用 NI PXI 平台搭配 LabVIEW 軟體,架構出 HIL (Hardware in the loop)引擎模擬系統,在同樣的測試環節上,和以往的測試系統相比,降低了 1/20 的測試時間。同時達成電子馬達 ECU 檢測所需的模擬速度和模型精確度。

而在半導體業界,PXI模組化儀器已經突破大家對精準度的疑慮,在今年,更成功的和機台廠商共同開發出 32 Site 的MEMS 測試機,除了功能和精度已經超越業界需求外, PXI 模組化的彈性,更能讓客戶在段時間內視需求增加或是替換測試功能,這樣高靈活度的特性,將更能符合半導體業界的需求。

隨著 PXI 技術在業界創造越來越多成功案例,NI 更將致力於開發與創新,協助客戶們快速達成任務,成功克服當今所面臨的工程挑戰。





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