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R&S ZVA與FSW協助RF-Lambda克服測試挑戰

上網時間: 2014年09月30日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:ZVA  網路分析儀  FSW  頻譜產生器  微波元件 

羅德史瓦茲(Rohde & Schwarz)宣佈美國 RF 及微波元件製造商 RF-Lambda 經過慎密的評估後採用了 R&S ZVA 網路分析儀及 R&S FSW 訊號及頻譜產生器,透過儀器的高精確度及高度可重複性測試,滿足了 RF-Lambda 於微波元件領域的測試需求。

RF-Lambda 為主被動 RF、微波元件及子系統的製造商,效能參數評估及最佳化一直以來都是 RF-Lambda 元件及模組生產上非常重要的一環,在產品的效能測試上,RF-Lambda 面臨了非常棘手的量測挑戰,例如高動態範圍及線性度、低雜訊基準、高峰均值(PAPR)及超寬頻段等;因此 RF-Lambda 透過儀器的功能進行評估選擇,以解決公司實際遭遇到的量測問題,被選定為即將進行對比測試的元件型號為 RFDAT0118G8A 及 RFDAT0040G5A 數位控制步進衰減器、RFPSHT450M1D8 數位步進移相器、RLNA00M50GA 高增益低雜訊放大器 (LNA) 及客製化收發模組應用於 67 GHz 機載應用。

RFDAT0118G8A 為於 1 至 18 GHz 頻段下運作的8-bit、0-to-128dB的數位控制衰減器, RFDAT0040G5A 則為 0.1-40GHz 全頻段運作 5-bit 0-to-32dB 的數位控制衰減器, RFPSHT450M1D8 為 400 ~ 500 MHz 頻段下運作最小相差達 1.4 度的分散式數位相移器, RLNA00M50GA 為 100 kHz ~ 50 GHz 頻段的極寬頻元件,其相位雜訊為 4 dB、增益高達 34 dB、全頻段的 RF 輸出功率大於 20 dBm。

RF-Lambda 過去所面臨的困境為衰減器及移相器元件,在完整頻寬上進行相位連續性的重複測試,RF-Lambda 工程師以及 R&S 工程師則透過了 R&S VNA 向量網路分析儀執行了同樣的測試,R&S ZVA 完整呈現了這些元件於所有量測頻寬下的真實效能表現。

RF-Lambda 亦對於 R&S ZVA 於相位及幅度可做微小增量調整留下了深刻的印象,這對於被廣泛應愈於 OFDM 及相位陣列雷達系統的數位控制步進衰減器及相移器是非常重要的功能,該儀器還提供了低雜訊、高線性度及動態範圍的最佳組合。

最後,具備非常低雜訊基準的 R&S FSW 訊號及頻譜分析儀讓研發團隊毋須使用矯正雜訊消除技術及外部混頻器,即可進行收發模組相位雜訊效能量測,當 R&S FSW67 量測頻率支援達 67 GHz 的同時,單獨專用的相位雜訊測試系統即可被淘汰了。





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