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安立知高速串列電路與光通訊元件量測研討會登場

上網時間: 2014年11月24日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:高速串列電路  光通訊  100GE  雲端  量測研討會 

安立知(Anritsu)宣佈,「聚焦次世代—2014年新一代高速串列電路光通訊元件量測研討會」將於 2014 年 12 月 9 日及 12 月 10 日分別在台北及新竹舉行,會中將針對高速傳輸市場趨勢進行剖析,除分析既有 100GE 市場概況外,亦將與與會者分享未來 400GE 與 1TE之 技術發展狀況,以及探討高速傳輸所遇到的訊號完整性問題、雲端世代關鍵——高速主動光元件技術的發展方向,以及被動元件的量測技巧。

新興雲端應用的蓬勃發展,引領網路流量及傳輸介面速率大幅躍進,更帶動了對 Data Center 的殷切需求,40/100G Ethernet、Infiniband EDR (26Gbps) 及 32X Fiber-channel 等高速傳輸介面因而如火如荼的發展,IEEE 與 ITU-T 亦進入 400GE & 1TE 相關規格的討論階段,象徵傳輸介面將全面邁入超高速傳輸時代。

面對大量資料處理需求所帶動的高速介面發展與設計測試的各項挑戰,安立知為工程師提供高速主被動元件全面性的測試解決方案。「2014 新一代高速串列電路與光通訊元件量測研討會」將針對雲端應用所帶動的相關高速傳輸規格與測試需求進行深入剖析,探討高速傳輸所面對的訊號完整性問題以及最新 100Gbps 抖動容限(Jitter Tolerance)測試架構解密,並特別邀請中央大學電機工程學系許晉瑋教授介紹高速關鍵光元件技術,以及光纖零組件大廠 GIP (光合訊科技)專案經理張瑋倫揭密 Coupler、Splitter 與 EDFA 等被動元件量測技巧。

此外,豐富實用的課程內容搭配現場多款兼具技術性能及成本效益的全方位測試解決方案實機展示,安立知將帶領業界工程師掌握最新的關鍵知識與技術。





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