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愛德萬T2000 PMU32E模組擴大SoC測試功能

上網時間: 2014年12月03日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:T2000  參數量測儀  PMU  模組  PMU32E 

愛德萬測試(Advantest)推出 T2000 平台最新多功能參數量測儀(PMU)模組 T2000 PMU32E ,提供高於現有模組兩倍的解析度與精準度,進一步提升數位、類比與電源管理系統單晶片(SoC)元件的測試效能。

全新模組 PMU32E 具備高密度32通道,可與愛德萬測試原有 PMU32 模組完全相容(即使兩模組使用相同測試機台介面單元),且能提供高於現有模組兩倍之解析度與精準度。 T2000 測試系統結合全新 PMU32E 模組,將能在量測精準度、安裝時間與連結功能方面達到極高水準,媲美T2000 EPP系統效能。

愛德萬測試SoC測試事業執行董事暨執行副總裁岡安俊幸表示:「我們在這款全新參數量測儀模組上提供了更高效能,讓客戶能以較低投資成本獲得EPP測試系統功能。」

T2000 PMU32E 不僅量測時間較現有模組快上一倍以上,尤其在直流纜線性量測時間方面,更因為取樣率與資料傳輸速度的提升而大幅縮短。量測速度的加速,使得測試產能能夠明顯提高,整體測試成本也隨之降低。

此套新模組另一個進一步改善作業效率的優勢,在於能夠執行針對現有 PMU32 模組所開發的測試程式;除此之外, PMU32E 提供了兩倍之多的記憶體容量,讓不受通道之限的任意波形產生器(AWG)與數位器增添更多功能。

PMU32E 亦支援晶片內建穩壓器(ODR) 連同其 ISVM (電流源暨電壓量測) 連結功能的載入測試。

愛德萬測試全新 PMU32E 模組預計於2015年第一季開始出貨。





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