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測試與測量  

支援最新通訊標準的45GHz光調變分析儀

上網時間: 2015年06月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Tektronix  光調變分析儀  示波器  400G  通訊 

Tektronix推出能夠支援最新100G和下一代400G通訊標準的全新45 GHz光調變分析儀 (OMA)。分析儀可支援單載波系統或多載波系統,並與 Tektronix日前推出的DPO70000SX 70 GHz ATI高效能示波器緊密整合,為複雜的調變發訊提供了多通道、高取樣速率、低雜訊數位化等功能,可用於測試相干光發射器、傳輸系統和接收器。

由於採用全新5吋高效能示波器封裝,工程師可以靈活地將多條擷取通道放在一起,而對機架或工作台空間的影響降至最小。例如,兩台70 GHz新儀器可以放在與標準實驗室高效能示波器同樣大的空間中。這提供了額外的擷取效能,同時最大限度地降低了與調變分析儀的距離,進而改善了訊號完整性。

為了在多通道環境中保證精確的效能,全新的UltraSync解決方案實現了多機擷取系統及協調觸發功能,固有的擷取間抖動優於任何單一儀器中的典型通道間抖動。此外,還包括了一條高速資料路徑,將波形從擴展設備傳送到主設備中,以快速進行分析。

行動運算和雲端運算的迅速成長也不斷地推動著遠距離光通訊頻寬需求的成長。為最大限度地提高光纖和網路設施投資,業界已經轉向複雜的光調變格式,可以實現更高效率的資料速率,而又不要求更高的網路頻寬。

到目前為止,研究人員和工程師一直需要依賴多家測試量測廠商,甚至要製作自己的測試夾具,才能執行要求的測試,這不僅要付出寶貴的研究時間,還會降低重複能力。通過今天推出的新產品,Tektronix現在解決了整個行業面臨的怎樣高效測試相干調變技術的問題。

OM4245 45 GHz光調變分析儀能夠支援高達80 GBaud的雙偏振相干光分析,提供了內建的窄行寬雷射器(narrow linewidth lasers),並支援Tektronix OM系列使用者介面 (OUI)。除典型分析應用中經過驗證的簡便易用性外,Tektronix OUI還提供了極高的靈活性,並能夠存取研究人員進行更進階的相干光分析所需的MATLAB計算引擎。這為進行相干調變演算法試驗提供了一個強健、省時又可量身打造的平台。

隨著100G需求演進到400G、甚至1Tb,工程師需要能夠隨著他們的需求一起成長的測試量測系統。Tektronix最新推出的DPO70000SX ATI高效能示波器可在效能需求演進時方便地進行系統擴充。針對400G以上的分析工作,OM4245提供了多載波支援 (選配MCS),為任何配置的多載波系統提供了自動分析功能,包括800G和1Tb結構。





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