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Advantest推出全新多功能記憶體測試系統

上網時間: 2015年06月29日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Advantest  記憶體測試  NAND  DRAM  非揮發性記憶體 

愛德萬測試(Advantest)發表全新記憶體測試系統T5833,新系統同時支援DRAM與NAND快閃記憶體元件的Wafer Sort及Final Test,可滿足低成本大量測試需求。

隨著行動電子產品銷售量攀升,主要搭載於智慧型手機及平板電腦的DRAM、NAND快閃記憶體與多晶片封裝記憶體 (MCP) 正快速朝向提升速度與容量發展,這個趨勢也同樣顯見於網路和雲端伺服器市場。然而,記憶體元件種類繁多,測試成本是一大負擔,因此晶片製造商亟需一套具備先進功能、高效能,並兼顧低測試成本的解決方案。

愛德萬測試全新多功能T5833記憶體測試系統,為所有記憶體元件 (從LPDDR3-DRAM、高速NAND快閃記憶體,到新一代非揮發性記憶體IC全部涵蓋) 提供Wafer Sort 與Final Test功能,可充分滿足上述需求。

T5833具備大量並行同測能力,Wafer Sort最高達2,048個元件,Final Test達512個元件,大大縮減了測試時間,明顯提升產能,因此可達到降低測試成本之效益。除了支援known good die (KGD)測試最高達2.4Gbps之外,T5833也同時藉由彈性化的test site CPU架構,以多CPU設計,使測試流程獲得最佳化控制。

T5833系統提供領先業界的高速失效位置儲存分析功能與失效分析功能 (又稱記憶體備援功能),是晶圓測試不可或缺的測試功能,其快速的執行速度將有助加快測試、修復更多IC並提升良率。此外,這兩項功能皆可依照需求加以調整,譬如增加CPU以提高運算速度。

T5833採用愛德萬測試的AS模組化記憶體測試平台,無論客戶需要的是工程用機台或是大型量產系統,皆可將平台調整成符合需求的設定。T5833的延展性可因應未來新世代元件測試,帶動產能提升,創造更高投資價值。





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