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宜特IC線路修復系統可供65奈米製程晶片應用

上網時間: 2006年04月13日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:宜特科技  IST  聚焦離子束  FIB  IC線路修復系統 

宜特科技(Integrated Service Technology,IST)宣佈為台灣半導體業界,引進針對65奈米製程開發出的聚焦離子束(FIB) IC線路修復系統。該系統將可提供台灣高階IC設計公司,在利用晶圓代工廠的90~65奈米製程試產後,進行IC線路除錯及功能驗證。

宜特表示,65奈米的IC驗證技術,是加速IC設計業65奈米產品開發與上市的關鍵;除技術上必需克服銅製程的驗證問題、覆晶封裝晶片的電路修復問題,以及90奈米製程的線路定位外,還必須降低晶圓試產次數、光罩改版次數及加速上市時程等。

而宜特已克服定位精準度、Low-k材料特性,以及封裝應力所產生的定位誤差,並具備65奈米的IC驗證能力。此外該公司在超低阻抗線路重建(N-FIB)領域亦具備專利技術,可協助台灣IC設計公司順利跨入65奈米領域。




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