Global Sources
電子工程專輯
 
電子工程專輯 > 測試與測量
 
 
測試與測量  

Agilent 4070參數測試系統獲力晶採用

上網時間: 2006年05月30日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:安捷倫  Agilent 4070  參數測試  力晶  晶圓參數 

安捷倫表示,Agilent 4070系列高精密參數測試系統已獲力晶半導體12M新廠採用,主要用來執行產品的晶圓參數測試(Wafer Acceptance Test,WAT)。Agilent 4070是一套穩定的高輸出(throughput)完整參數測試解決方案,能完全符合業界對於產品之嚴格參數測試需求。

安捷倫指出,Agilent 4070系列的高準確及穩定性可以支援各不同階段的製程技術,並具備了擴充彈性。而針對先進製程需求,該公司也表示,Agilent 4070系列不僅可以解決業界發展90奈米晶圓製程的量產測試需求,也可以支援下一世代製程的參數測試需求。




投票數:   加入我的最愛
我來評論 - Agilent 4070參數測試系統獲力晶採用
評論:  
*  您還能輸入[0]個字
*驗證碼:
 
論壇熱門主題 熱門下載
 •   將邁入40歲的你...存款多少了  •  深入電容觸控技術就從這個問題開始
 •  我有一個數位電源的專利...  •  磷酸鋰鐵電池一問
 •   關於設備商公司的工程師(廠商)薪資前景  •  計算諧振轉換器的同步整流MOSFET功耗損失
 •   Touch sensor & MEMS controller  •  針對智慧電表PLC通訊應用的線路驅動器
 •   下週 深圳 llC 2012 關於PCB免費工具的研討會  •  邏輯閘的應用


EE人生人氣排行
 
返回頁首