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Toshiba標準佈局流程採用Synopsys良率分析工具

上網時間: 2006年08月02日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:PrimeYield  LCC  IC Compiler  DFM  CAA 

新思科技(Synopsys)日前出PrimeYield新款軟體,這是該公司最新且功能完備的設計良率分析工具,能夠在設計初期就針對製造的相關問題進行自動化修正。而這項新產品中的微影規則檢查(lithography compliance-checking,LCC)模組可以與Synopsys另一產品IC Compiler搭配使用,為65奈米或更小尺寸的晶片設計遇到的微影相關問題,提供迅速而有效的偵測與改善作業。

東芝半導體公司(Toshiba Corporation Semiconductor Company)系統晶片設計部門(System LSI Design Dept)的資深經理Yukihito Oowaki說:「如何有效提升生產力對我們而言是相當重要的。Synopsys的PrimeYield可以自動而有效地檢查微影問題,而且能提供改正指引給P&R工具IC Compiler。我們對於新思科技PrimeYield所提供的效率與精確度都備感振奮,而且會把它佈署到我們的標準佈局流程中。」

PrimeYield能夠有效預測65奈米與65奈米以下先進設計在可製造性方面的相關問題。PrimeYield以三項核心模組處理這些問題:LCC、model-based CMP檢查、以及關鍵面積分析(CAA),讓設計業者在投片之前就能更正與修改設計。

新思科技技術長暨矽晶工程部門總經理Raul Camposano表示:「PrimeYield這項新的解決方案,能夠自動辨別與解決製造上的問題。而將PrimeYield LCC與IC Compiler配合使用,可以有效提升晶片設計效率及良率,對於像Toshiba這樣全球領先的晶片製造廠商而言,是極有價值的。」




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