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太克全新TDR測試方案因應高速串列需求

上網時間: 2006年10月09日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:TDR  時域反射計  PCI Express  Serial ATA  XAUI 

Tektronix宣佈推出新的DSA8200數位串列分析儀取樣示波器,具有新的遠端取樣電氣模組和加強的IConnect軟體,是適用於串列資料網路分析應用的解決方案。新的TDR(時域反射計)和電氣模組代表TDR測試技術20年來最重大的效能進展,也直接回應了對於高速串列資料標準的迫切需求和符合性要求。

超高速串列標準的出現,壓縮了電源預算和時序界限。因此,準確地分析訊號路徑和互連的時域與頻域,對於完全了解現今高速串列電路中的損失和串音是非常重要的。PCI ExpressSerial ATAXAUIInfiniband等產業標準,愈來愈需要使用S參數和阻抗量測,以分析效應的特性並保證系統的互通性。

新DSA8200解決方案的TDR性能增加250%,並具有新的自動化工具,最適合串列資料網路分析的要求。在現有與新出現差動標準之1Gb/s至12.5Gb/s串列資料速率的量測上,DSA8200代表準確和可重複量測S參數的最高性能和最經濟實惠解決方案。

四個新的電氣模組構成了高頻寬、低雜訊組合,可應付朝更低電源、更高位元速率差動訊號移轉的趨勢。這些模組包含先進的可用性功能,例如:±250 ps的通道至通道和模組至模組偏移校正、可由使用者選取的頻寬,以及小型化遠端取樣器。每個通道都有一條完全整合的2m纜線和遠端取樣器,使得TDR頭非常靠近受測裝置(DUT),減少探棒、纜線及夾具的影響。這可保證可能的最高量測精確度與重複性系統傳真度。

IConnect軟體提供有效和容易的超高速串列資料互連連結訊號完整性分析。IConnect會快速量測插入與反射損失、眼狀圖、抖動、串擾、反射及振盪。IConnect產品系列有三種產品配置:IConnect、IConnect S參數及IConnect與MeasureXtractor。IConnect的應用包括訊號路徑完整性分析、阻抗特性分析、S參數(插入與反射損失)、眼狀圖、符合性測試及錯誤隔離。

新的命令列介面(CLI)能夠自動量測多埠S參數,以及其他符合性測試需求,大幅減少校準與測試時間,同時增加測試重複性。利用自動CLI指令碼,通常需要數小時設定及執行的例行測試程序,現在只需要幾分鐘就能執行,大幅提升生產力。

DSA8200數位串列分析儀則是以專為通訊、電腦及消費性電子產品產業設計的新一代硬體主機為基礎,這些產業愈來愈要求訊號路徑特性分析和符合性驗證。DSA8200提供高速串列標準(包括PCI-Express II、FB-DIMM II、SATA II及10 Gb Ethernet)差動通道互連時域和頻域行為之特性分析、設計驗證及符合性驗證所需的多功能和優越的精確度。

DSA8200擴充TDS/CSA8200系列的功能,並提供相同模組和軟體的完全支援。新主機採用高速處理器和Microsoft Windows XP作業系統的優點與熟悉性。新的面板安裝DVD/CD-RW複合式光碟機與USB 2.0連接埠,提供更容易和更快的量測與資料檔案儲存及傳輸。DSA8200有6個可用的主機插槽,提供擴充性最大的模組化架構,能夠讓使用者設定儀器以克服現今和未來最嚴苛的量測挑戰。




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