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Agilent推出數位分析儀用相位雜訊分析軟體

上網時間: 2007年02月14日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:DCA-J  數位通訊分析儀  應用軟體  83496B  時脈回復模組 

安捷倫科技(Agilent Technologies)發表數位通訊分析儀(DCA-J)用相位雜訊應用軟體與選項。新軟體可就50Mbps到13.5Gbps的廣泛動態範圍內之時脈和資料信號,執行相位雜訊/頻譜抖動分析。此外新款光學/電子模組可提供光學發射器測試與40Gbps光學相容性測試;先進的振幅分析選項則為光學調變振幅和相對強度雜訊提供了新的分析方法。

其中相位雜訊/頻譜抖動分析用之Agilent 83496B時脈回復模組,為多重速率寬迴路頻寬(wide loop bandwidth)時脈回復模組,可提供以各種信號,包括設定時脈之擴頻信號,來執行精確的波形量測之能力。此為業界第一款相位雜訊應用軟體,可就50Mbps到13.5Gbps範圍內的時脈和資料信號,執行相位雜訊/頻譜抖動分析。

許多序列匯流排結構都採擴頻時脈以達到較佳的信號完整性,此被稱為電磁干擾(EMI)管理。取樣示波器的硬體時脈回復元件無法處理擴頻時脈所產生的大量抖動,要執行有意義的量測根本不可能,如今Agilent 83496B克服了這個問題。

Agilent 83496B和相位雜訊應用軟體可經由頻域分析來顯示抖動的根本原因,此乃偵測抖動源有效而容易的方法。這個解決方案也能用來分析時脈和資料信號,以建立資料抖動原因與系統時脈間的關聯性。

除此之外,DCA-J還針對光學應用提供了三項新的功能,其一為Agilent 86116C光學/電子模組的40Gbps相容性測試,可當作65GHz示波器通道或切換到參考接收器,以執行40Gbps光學發射器眼圖模板(eye-mask)測試。精心控制的頻率響應使其能夠如參考接收器般的運作,並提供一致而準確的眼圖模板測試。它可依OC-768、STM-256和相關規格,以標準或FEC速率來設定。

其二,DCA-J選項300提供了同樣為業界所接受之振幅域(amplitude domain)分析。此軟體具備如相對強度雜訊(relative intensity noise,RIN)量測等能力,其為光學發射器常見的一項規格。RIN量測原需用到昂貴或複雜的測試儀器,如今透過這個軟體,便可使用相同的設備迅速又準確地同時完成眼圖模板測試與RIN量測。選項300也能分離干擾參數到極低的可能性,以準確量測常被用來估算誤碼率之Q係數。

其三為86100C DCA-J的簡易OMA量測。安捷倫86100C DCA-J 7.0版軔體藉由以新穎的方法來量測光學發射器的光學調變振幅(optical modulation amplitude,OMA)規格,達到強化系統之目的。一般的OMA測試都需要特殊的資料碼型,安捷倫86100C可為這些碼型,甚至所有的資料碼型,提供準確的OMA結果。這樣的彈性省去了重新設定激發的麻煩,在進行完整的收發器特性描述時可節省寶貴的量測時間。




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