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IEEE可望將Synopsys捐贈的功能擴充納入SPEF標準

上網時間: 2007年02月14日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:SPEF  互連  寄生萃取  新思  65奈米 

國際電機電子工程學會(IEEE)的1481工作小組最近通過Synopsys(新思科技)的一項提案,針對IEEE所採用的標準寄生交換格式(SPEF),Synopsys捐贈重要技術以擴充SPEF功能,此舉將協助設計業者有效因應65奈米或更先進製程中,常遇到的製程與溫度變異等問題。

在這項提案中,Synopsys將提供一項互通的介面(common medium),以便不同的EDA工具之間,也能傳遞重要而敏感的寄生訊息(sensitivity-based parasitic information),同時Synopsys提供的關鍵功能擴充,也可精準而確切地表達出先進製程中所需的互連寄生敏感度訊息,以強化現有IEEE1481-1999標準的SPEF功能。

在1481工作小組通過後,IEEE的標準審查委員會可望於近期內投票,以決定將此次Synopsys所提供的SPEF功能擴充,正式納入SPEF標準當中。

科技應用產品逐漸走向輕、薄、短、小,對IC設計者的挑戰也日益增加,尤其在互連(interconnect)架構中常遭遇的隨機製程變異,如何能精確而有效的建立模型,已成為設計過程中必要的程序。萃取(extraction)與分析(analysis)工具使用統計技術來建立模型,而針對物理與電子流程中之參數相關的互連寄生(interconnect parasitics)需要具有高敏感,才能有效而精確地進行統計分析。

制訂一套以敏感度為基礎(sensitivity-based)的SPEF格式標準,可協助寄生萃取(parasitic extraction)設計工具,建立具寄生標稱值的網表,並且對互連變異參數高度敏感,因而可以更為容易地供分析、模擬,及實作執行(implementation)等方面的工具讀取。

Synopsys策略發展副總裁Rich Goldman則表示,愈來愈多廠商都面臨65奈米及更先進設計所遭遇的製程與溫度變異挑戰,此次SPEF標準之功能擴充對於協助因應這類挑戰是相當關鍵的,我們主動與IEEE 1481工作小組合作,希望能盡速建立業界共通的sensitivity-based SPEF標準,以便促進電子產業的整體發展。




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