Global Sources
電子工程專輯
 
電子工程專輯 > 製造/封裝
 
 
製造/封裝  

FormFactor新型12吋晶圓探針卡問世

上網時間: 2007年02月16日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Harmony XP  探針卡  12吋晶圓  晶圓測試  DRAM 

FormFactor推出Harmony XP探針卡,擴增其Harmony系列全區域12吋晶圓探針卡產品陣容,先進的晶圓偵測解決方案支援高密度行動通訊、一般商品以及繪圖產品專用DRAM元件,為每粒晶圓帶來最低整體測試成本。

專為這些裝置之高標準技術挑戰而量身設計的Harmony XP探針卡,以俾使DRAM製造商達到其在更高針腳數、時脈、平行化測試,以及縮減銲墊與間距尺吋的產品藍圖需求。Harmony XP探針卡充份運用先進測試儀器的各項資源(受測晶粒數量高出384倍以上),達到最高的平行處理效率,僅須兩次接觸測試,就能偵測12吋1GB DRAM晶圓。

Harmony XP晶圓探針卡結合了FormFactor生產驗證的MicroSpring技術,以支援高度平行化的測試作業。探針卡創新的彈簧型設計,讓Harmony XP探針卡能支援超過5萬個MircoSpring接觸點,使其可測試高密度的行動裝置專用DRAM以及各種繪圖元件。MicroSpring探測器提供極低的接觸阻抗,達到最佳的電子性能,僅須少量的清潔保養,就能提高探針卡的可用度並維持更高的測試單元正常運作時間。

為協助DRAM製造商轉移至65奈米以下設計規格,同時達到更低的功耗以及更嚴苛的電子性能要求,Harmony XP架構將允許銲墊間距縮小至60微米,並在銲墊尺吋可縮小至55微米達到最佳的訊號完整性。此外,Harmony XP解決方案更積極地發展進一步縮小尺吋的產品藍圖。

FormFactor表示,Harmony XP探針卡提供了一個能支援300MHz的測試頻率選項方案,不僅能縮短測試時間,亦能支援各種已知良好晶粒(KGD)的應用。這類領域中,高頻率測試功能是不可或缺的。

減少探針卡在測試所有元件的接觸測試次數,長久以來一直協助業者大幅降低DRAM的整體測試成本。雖然整體降低測試成本,但轉移至12吋晶圓測試流程,亦促使業者需要提高測試單元的正常運作時間。以快閃記憶體專用的FormFactor Harmony OneTouch探針解決方案為例,Harmony XP解決方案搭載許多先進平坦化功能,是達成先進DRAM測試需求的重要條件。

Harmony XP的整體系統方案亦提供探針卡的傾斜調整機制,縮短探針卡的設定時間,進而提高測試單元的生產力。FormFactor現已開始接受Harmony XP探針卡的訂單。




投票數:   加入我的最愛
我來評論 - FormFactor新型12吋晶圓探針卡問世
評論:  
*  您還能輸入[0]個字
*驗證碼:
 
論壇熱門主題 熱門下載
 •   將邁入40歲的你...存款多少了  •  深入電容觸控技術就從這個問題開始
 •  我有一個數位電源的專利...  •  磷酸鋰鐵電池一問
 •   關於設備商公司的工程師(廠商)薪資前景  •  計算諧振轉換器的同步整流MOSFET功耗損失
 •   Touch sensor & MEMS controller  •  針對智慧電表PLC通訊應用的線路驅動器
 •   下週 深圳 llC 2012 關於PCB免費工具的研討會  •  邏輯閘的應用


EE人生人氣排行
 
返回頁首