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晶片出現故障仍能繼續運作 NEC研發新技術

上網時間: 2007年03月07日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:晶片設計  故障預測  fine-grain fragmentation 

NEC宣佈開發出一種能夠預測晶片設計故障的技術。這種技術能夠使LSI元件在邏輯中存在電路故障時,仍然能夠繼續正常運作。

NEC是為了使晶片能在出現多處故障的情況下繼續可靠運作,因此開發了這種超細分段(fine-grain fragmentation)技術和故障預測技術。NEC表示,將微處理器(MPU)分為細小的冗餘模組能使故障侷限於模組內部,而不影響整個MPU;該方案只需兩個MPU就能夠提供非常高的可靠性。

(參考原文:NEC devises failure prediction technique)

(Mark LaPedus)




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