測試與測量 
晶片出現故障仍能繼續運作 NEC研發新技術
關鍵字：晶片設計 故障預測 fine-grain fragmentation
NEC宣佈開發出一種能夠預測晶片設計故障的技術。這種技術能夠使LSI元件在邏輯中存在電路故障時，仍然能夠繼續正常運作。
NEC是為了使晶片能在出現多處故障的情況下繼續可靠運作，因此開發了這種超細分段(fine-grain fragmentation)技術和故障預測技術。NEC表示，將微處理器(MPU)分為細小的冗餘模組能使故障侷限於模組內部，而不影響整個MPU；該方案只需兩個MPU就能夠提供非常高的可靠性。
(參考原文：NEC devises failure prediction technique)
(Mark LaPedus)
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