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IMS論壇成功採用Tektronix套件進行互通性測試

上網時間: 2007年03月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:IMS  互通性測試  TTCN-3  測試套件  G35 

Tektronix宣佈IMS論壇(IMS Forum)在一月舉辦的第一屆IMS應用與服務插拔大會(Plugfest)中,以其新型IMS互通性測試套件成功評估了廠商的IMS執行成果。

Tektronix的IMS測試套件在G35功能測試平台上進行測試,模擬IMS終端裝置,以評估參加IMS廠商的執行成果。這組測試套件是由超過100個挑選過的測試個案所組成,測試個案經過周密設計,將焦點放在複雜且可能造成互通性問題的程序上。

抽象測試套件執行是根據TTCN-3 (Testing and Test Control Notation version 3,測試和測試控制表示法第三版),為測試個案定義及語言的全球開放式標準。

使用測試個案套件容許高度的測試自動化、提高IMS裝置的效率及系統測試活動,同時大幅縮短測試時間(產品上市時間)並大幅降低測試成本。透過Tektronix的G20/G35分析軟體,擷取並解碼所有的測試流量,能夠快速隔離失敗測試狀態的根本原因。




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