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Wind River推On-Chip除錯方案協助提升製造產能

上網時間: 2007年08月03日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:除錯方案  測試 

溫瑞爾(Wind River Systems)開始供應Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test除錯方案,此一遵循業界標準的方案讓測試與製造工程師能在生產現場直接診斷硬體問題。

這項On-Chip Debugging for Manufacturing and Test新方案能協助製造商提高生產線產能、有效率地驗證完工產品,減少報廢率(scrap)和重做率(rework),也能針對個別需求建立客製化的測試應用。此外該方案亦能與邊界掃描器、邏輯分析儀和示波器等工具搭配以發揮效用,可保護客戶的既有投資。

這項方案結合了on-chip除錯方案領域中的技術與測試及製造工具,並且預先整合了美國國家儀器(NI)革命性的LabVIEW平台與開發環境。Wind River On-Chip Debugging for Manufacturing and Test包括了Wind River ICE和Wind River Probe模擬器、Wind River On-Chip Debugging應用程式介面和Utility JTAG測試方案、以及NI LabVIEW Virtual Instrument Driver。




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