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安捷倫科技發表訊號完整性分析系列應用手冊

上網時間: 2007年09月11日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:訊號完整性分析  應用手冊 

安捷倫科技(Agilent Technologies)發表訊號完整性分析三部曲系列應用手冊,有助於產生topology model (架構模型)、S參數行為模型、分析上升時間惡化的特性、互連頻寬、近端和遠端的串音、odd mode (奇模)、even mode (偶模)、差模與共模阻抗、模態轉換、及分析差動通道的特性。此系列應用手冊重點在於如何運用簡單的方法迅速取得資訊,減少反覆設計的次數。

第一部曲探討的是時域反射儀(TDR),本文將說明何以TDR不光只是一個用以瞭解傳輸線的阻抗不連續性的簡單雷達站而已,TDR還可以運用在超過40種特性量測、modeling (模型化)、以及模擬的應用中。

第二部曲探討的是4埠的TDR,並搭配向量網路分析儀(VNA)和安捷倫的實體層測試系統(PLTS)使用。將介紹如何搭配VNA,運用4埠的TDR來進行高速與數位設計中,超過100種重要的特性量測、模型化、以及模擬等應用。另外也說明了如何運用PLTS應用軟體進行互連分析,加上容易使用的TDR,充分發揮VNA。

第三部曲探討的是反嵌入的主題,介紹何以反嵌入法是先進的訊號完整性量測及校驗應用中,常採用的一種基本而重要的誤差修正方法。文中會就幾種不同的誤差修正方法與反嵌入法相互比較,主要的目標是要將測試夾具造成的artifact (假象波形)減到最少,例如注入損耗、反射和相位誤差等。




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