印度研發測試混合訊號IC數位功能區塊的新方法

來自印度Kharagpur印度科技學院(Indian Institute of Technology)的一個研究團隊，宣佈開發出了一種用以測試嵌入到混合訊號VLSI電路之中的數位功能區塊(block)的方法。該方法是以類比反向追蹤技術(analog backtrace)為基礎，這種技術採用類比區塊本身來測試數位區塊。該方法並透過開發類比區塊，來給數位區塊輸入的可控制能力施加壓力。

根據該研究團隊於印度舉行的2007年VLSI設計和測試會議上所提交的論文，研究人員表示，其成果是以傳輸功能級(transfer function level)上所做的工作為基礎。然而，必須對類比電路執行電晶體級模擬，以進行更實際的研究。而該團隊的研究人員表示它們正朝著這個方向努力中。

研究人員主張，雖然針對數位電路的自動測試和測試模式生成的問題已經解決，但當數位區塊被嵌入到類比區塊之間──如混合訊號IC時，直接施加和觀察測試模式及響應仍然是不可能的。

該團隊開發的一種方法使之能夠開發類比電路本身，因而以盡可能小的開銷(overhead)來測試嵌入式數位區塊。他們解決了在混合電路中測試數位區塊中面臨的第一個問題(即把類比區塊理想化)。下一步，要考慮類比區塊中的參數變化，以開發一種有效的測試解決方案。該技術的效益並已透過對一些類比基準電路的模擬得到了驗證。

研究人員表示：「近來在IC建構技術上的進步，已讓包含類比與數位功能的單晶片更容易實現。不過要在這類晶片中進行數位核心的測試，卻比測試單純的數位核心更為複雜。」由於類比區塊能透過量化器(quantizers)直接接取數位核心，研究團隊直接控制了類比區塊，讓離散的Fourier電壓(transform)開銷最小化。

「我們所研發的測試解決方案，著重於透過利用類比區塊對數位區塊輸入的可控制性。」研究團隊表示，其研究成果是在傳輸功能級實現；下一步是要進行傳輸功能級的類比電路模擬。其演算法還需要包括非理想化的類比/數位介面。

(參考原文：India team unveils new approach to test digital modules)

(K.C. Krishnadas)