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專長LCR元件量測 Wayne Kerr將於秋電展亮相

上網時間: 2007年10月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:LCR量測  磁性元件分析儀  阻抗 

成立於1946年,專長LCR元件量測儀器與精密阻抗分析儀的英國業者Wayne Kerr,已正式在台成立亞洲區總公司(英之科科技)。該公司將於10月9日~13日的台北秋季電子展,發表多款全新系列LCR Meter、Impedance Analyzer/精密阻抗分析儀、Gain Phase Analyzer、Frequency Response Analyzer及磁性元件分析儀等產品。

Wayne Kerr的核心技術在於各種LCR元件、電源、自動化測試,以及通訊領域等具有精確基礎的量測能力,號稱是全球首家研發出數位顯示型LCR Meter的公司,其LCR Meter擁有+/- 0.02%高精確度、20ms的高速測試、20Hz ~120MHz頻寬與0~125安培的DC Bias (直流偏流源)。

Wayne Kerr亞洲區總經理林文欽表示,電源領域IC/元件設計、各種被動元件、生化研究及高頻元件產品是電子產業相當重要的發展重心;因此該公司繼於美國、英國、德國、新加坡、印度、日本、中國大陸深圳及廣州設立據點後,正式在台成立亞洲區總公司;提供客戶服務與技術支援等能力。




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