Agilent PNA-X網路分析儀新增雜訊指數量測選項

安捷倫科技(Agilent Technologies)宣佈其旗下的PNA-X網路分析儀推出源端修正式(source-corrected)雜訊指數量測選項，將此選項直接內建在Agilent PNA-X中，可為開發和測試最高頻率在26.5GHz以下的低雜訊電晶體、放大器與發射/接收(T/R)模組的研發及生產製造工程師，提供一套完整的單次連接、多次量測解決方案。

安捷倫表示，測試航太/國防及無線通訊系統中用到的元件時，需要執行雜訊指數量測。這些量測通常不容易進行，特別是無法直接將雜訊源與待測元件相連接時。而此次新推出的源端修正式雜訊指數量測選項能提供單次連接解決方案，以執行S參數和雜訊指數量測，以及諧波、壓縮和交互調變失真等量測。進而加快測試設定和產品上市的時間、提高生產的產出速度、減少接頭和探棒的磨損、及降低晶圓毀損的風險。

安捷倫的源端修正式雜訊指數解決方案是依據Agilent 8510網路分析儀首創的整合式向量誤差修正冷源(vector-error-corrected cold-source)技術所設計的。運用Agilent PNA-X和Agilent Ecal模組(做為阻抗調整器)，可以消除系統的源端匹配不完美所造成的影響，提高冷源技術的準確度。

整合式的源端修正式雜訊指數量測選項可提供每一點42毫秒的測試時間，縮短整體的測試時間，提高產出速度。安捷倫提供的雜訊指數量測產品包括PNA-X、雜訊指數分析儀(NFA)和以頻譜分析儀為主的解決方案。而量測雜訊指數的最低配置需求包含Option 029源端修正式雜訊指數量測選項、衰減器選項(Option 219/419)、N4691B 3.5 mm Ecal模組、以及346系列雜訊源。

Agilent PNA-X為2或4埠，頻率範圍自10MHz到26.5GHz的微波網路分析儀，可針對two-tone (雙頻)和脈衝式的RF量測，提供一套單次連接解決方案。整合式的第2組訊號源、訊號結合網路、以及內建的脈衝產生器和調變器可以讓PNA-X成為放大器和頻率轉換器的RF量測中心。運用了PNA系列網路分析儀既有的功能和特性，包括透過LAN、USB和GPIB連接；嵌入式輔助說明系統；以及頻率轉換器量測應用軟體(FCA)。