Global Sources
電子工程專輯
 
電子工程專輯 > 測試與測量
 
 
測試與測量  

適用DDR3記憶體的全方位測試儀

上網時間: 2008年04月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:DDR3  數位領域  測試儀 

太克科技(Tektronix)宣佈推出DDR2與新DDR3技術適用的全方位測試工具組,該方案橫跨類比與數位領域,能支援各種速度的DDR、DDR2和DDR3,若與現有方案相比,這款新型DDR測試儀還可節省30%的成本。

DDR3是新一代雙倍資料傳輸速率(Double Data Rate,DDR)同步動態隨機存取記憶體(Synchronous Dynamic Random Access Memory,SDRAM)能提供更高效能的資料傳輸速率。DDR3標準支援每秒8M至1600MT資料傳輸(MT/s),時脈各為400MHz至800MHz,速度是DDR2技術的兩倍。DDR3非常適合於需要高效能的應用,例如:檔案伺服器、隨選視訊、編碼與解碼、遊戲、3D視覺化等等。

在數位驗證與除錯方面,TLA7000邏輯分析儀與全新的TLA7BB4訊號擷取模組,提供邏輯分析解決方案,能滿足DDR、DDR2和DDR3(包括DDR3-1600)等所有速度的需求。TLA7000系列具備記憶體支援與探棒解決方案,是功能佳的數位驗證與除錯解決方案。

TLA7BB4與Nexus Technology的DDR3/DDR2通訊協定違規監測軟體共同運作,會自動分析DDR2或DDR3匯流排,輕易迅速地辨識出通訊協定違規情形與頻率,並於邏輯分析儀記憶體提供所有DDR命令的整體檢視。使用以TDR為基礎的訊號路徑特性分析與電路板驗證之DSA8200取樣示波器,就可執行實體連結分析。

而在類比驗證與除錯方面,數位序列分析儀DSA70000系列產品中的全新DDR分析選購配件(opt.DDRA),搭配符合的P7500 TriMode主動差動探棒與DPOJET量測軟體,能提供強大的除錯工具組,自動辨識讀取與寫入,並執行Clock(時脈)、Jitter(抖動)、Amplitude(振幅)、Timing(時序)及Eye Diagram(眼狀圖)量測。P7500系列的新型DDR探棒頭,可連接到待測裝置上難以接觸的位置。





投票數:   加入我的最愛
我來評論 - 適用DDR3記憶體的全方位測試儀
評論:  
*  您還能輸入[0]個字
*驗證碼:
 
論壇熱門主題 熱門下載
 •   將邁入40歲的你...存款多少了  •  深入電容觸控技術就從這個問題開始
 •  我有一個數位電源的專利...  •  磷酸鋰鐵電池一問
 •   關於設備商公司的工程師(廠商)薪資前景  •  計算諧振轉換器的同步整流MOSFET功耗損失
 •   Touch sensor & MEMS controller  •  針對智慧電表PLC通訊應用的線路驅動器
 •   下週 深圳 llC 2012 關於PCB免費工具的研討會  •  邏輯閘的應用


EE人生人氣排行
 
返回頁首