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TI推動IEEE 1149.7標準大幅降低嵌入式系統的空間與成本

上網時間: 2008年09月10日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:IEEE 1149.7  IEEE 1149.1  JTAG 

身為IEEE工作小組的主要成員,德州儀器(TI)宣佈將致力推動IEEE 1149.7標準的認證。此項全新雙接腳測試與除錯介面標準,可支援使用IEEE 1149.1技術半數的接腳,讓開發人員可輕鬆針對具備複雜數位電路、多顆CPU及應用軟體的產品,如行動與手持通訊裝置等,進行測試與除錯。德儀推動IEEE 1149.7新標準的發展與認證,可望大幅降低嵌入式系統的空間與成本,提供全新雙接腳精簡測試與除錯解決方案,降低接腳數、封裝尺寸及電源限制的嚴格要求。

除了領導IEEE 1149.7新標準的發展與採用之外,TI也和Freescale Semiconductor、Lauterbach Datentechnik GmbH、IPExtreme、ASSET InterTech, Inc.、Corelis及GlobeTech Solutions等公司合作,釐清實作挑戰,確立簡易而穩健的解決方案,以供業界廣泛採用。

IEEE 1149.7已被廣泛採用超過20年,為IEEE 1149.1(JTAG)標準的進階標準,此項新標準可做為嵌入式系統裝置製造、測試與軟體開發的埠口,並將於2009年初獲得認證。此外,此項新標準不但與IEEE 1149.1相容,更改善除錯功能,降低系統單晶片接腳數的需求,並且統一省電標準,簡化多晶片模組與堆疊晶片裝置的製造,同時具備傳輸儀器資料的能力。

TI模擬技術產品經理Stephen Lau表示:「IEEE 1149.7測試與除錯技術,將成為電子產業的里程碑,可讓工程師輕鬆地將目前設計更新至新標準,並同時以現有IP模組和工具保障投資與相容性。此外,Freescale、Intel及STMicroelectronics等廠商也加入TI的行列,推動業界廣泛採用此技術,並將其整合於產品中。」

由於目前多數系統均整合多個IC,而且往往有嚴格的尺寸限制,因此減少接腳與走線的數目,將有助設計人員達成縮小體積的目標,並可容納額外的功能接腳,降低封裝成本。相對於IEEE1149.1所預留的四個接腳,IEEE 1149.7僅需雙接腳即可應付時脈、控制與資料I/O。較低接腳數的配置,可省去額外接腳的需要,簡化堆疊晶片配置並降低成本,進而協助設計人員達成更小的體積外型。IEEE 1149.7與現有的IEEE 1149.1裝置及IP相容,設計人員可順利轉換標準,而無需額外成本。

Nokia行動產業處理器介面(MIPISM)測試與除錯工作小組召集人Rolf Kuhnis表示:「減少接腳數是推動進階行動裝置的重要技術。IEEE 1149.7為降低接腳數的標準化介面,其與現有技術相容,並可因應多晶片除錯的挑戰,因此推薦在使用MIPISM測試與除錯規格時採用IEEE 1149.7。」

全新IEEE 1149.7標準大幅擴充IEEE 1149.1,以因應系統單晶片架構所面臨的挑戰,例如多核心裝置卡、電源域(power domain)以及各種裝置連線轉換架構與背景資料傳輸的掃描效能。為達成多核心應用的更高效能,此項新標準提供晶片層級的旁路機制(bypass mechanism),以縮短掃描鏈,大幅提升除錯經驗。IEEE 1149.7並針對強調省電應用,尤其是手持裝置,提供四種省電模式,以協助工程師進行電路板與晶片的測試及除錯。將星狀拓樸(star topology)導入標準序串列拓樸(standard serial topology),可大幅簡化實體裝置間的連線,使設計人員可輕鬆管理多晶片架構。背景資料傳輸並提供傳送儀器資料的業界標準方法,提升系統單晶片裝置的能見度。

TI為原始JTAG測試技術開發的主要貢獻者,而全新IEEE 1149.7標準承襲TI豐富的掃描專業技術。對於IEEE 1149.1標準,TI率先開發掃描式模擬與XDS系列模擬器,並透過直接與處理器溝通,降低單晶片非侵入性監控的除錯成本與困難度。IEEE 1149.7則承襲TI其製造相容性產品的專業與經驗,以更少的接腳提供新功能,同時避免干擾目前以IEEE 1149.1為基礎的系統環境。IEEE 1149.7預計將於2009年第一季獲得認證。





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