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惠瑞捷推IC及MCU測試專用V101系統

上網時間: 2009年07月27日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:MCU  V101  測試 

惠瑞捷(Verigy Ltd.)針對IC與微控制器(MCU)推出一套可執行晶圓測試(Wafer Sort)及終程測試(Final Test)的V101測試系統。這套全新的100MHz tester-on-board系統擁有低成本與零佔用空間等優勢,已於今年的SEMICON WEST展覽中首度對外展示。

V101測試系統最高可運作達100MHz測試工作頻率與1024個I/O通道。V101擁有獨特的Tester-on-Board架構,可藉由內建的數位與直流裝置簡化測試系統硬體及其結構,並能以高產出量及較低成本進行高效率的多元件並行測試。另外,採用標準規格的零組件也讓V101更易於架設與維護。

V101的數位測試儀器架構內建數位與直流裝置,兼顧了測試效能與低成本兩項優勢。這套架構也讓V101的產出量可隨用戶需求彈性地擴充。V101是特別針對4、8與16位元MCU與其他低接腳數(pin count)低階IC元件的測試所設計。

這套數位儀器最高能以8個裝置電源供應器(DPS,device power supplies)達到100MHz的測試工作頻率;同時提供60M的深度向量記憶體以及8M的數位擷取儲存記憶體,因應快速的元件生命週期並進行修正,可降低雜訊、提升測試準確度與良率。內建的多功能直流測量單位(MMU)可免除額外的類比卡,直接進行嵌入的類比/數位轉換器(ADC)測試,達到降低成本的目標。

V101是唯一支援直接探針測試(direct probing)的最佳晶圓測試系統,無須額外的pogo tower或其他高成本的外加介面,因而能大幅節省成本。V101的設計亦有助於提升晶圓測試的訊號保真度(signal fidelity)以及簡化生產設定工作。

V101採用惠瑞捷的Stylus作業系統軟體。Stylus提供直接的電子設計自動化(EDA)連結,可縮短程式開發時程。採用STIL標準的測試程式不僅可簡化其他STIL標準的測試程式轉換作業,當軟體搭配深度向量以及數位擷取儲存器記憶體時,更可大幅縮短程式開發時程。

V101的測試範圍涵蓋多種低成本IC元件,包括4/8/16位元MCU、顯示器驅動控制器、介面週邊應用、一般用途的特殊應用積體電路(ASIC)、嵌入式記憶體,以及嵌入式類比數位轉換器。





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