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能高開發出PXI半導體邏輯測試模組

上網時間: 2009年09月11日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:PXI  FPGA  測試 

能高電子日前開發出PXI平台的半導體邏輯測試模組(OpenATE PE16),最高50Mhz時脈,邏輯準位相容於-1~+6V,每一邏輯腳位訊號卡有16個I/O通道,且採用Per-pin架構設計,每一I/O通道均配備有64M的測試向量記憶體(Vector Memory)、16組的時序設定、16組的波型(Waveform)設定,以及參數量測所需的PMU功能。

除了提供256I/O sets使用外,Active Load與per Pin PMU之全功能半導體邏輯測試。內含多循序控制指令的測試向量控制(Sequence Pattern Generator),以及邏輯腳位訊號(Logic Pin Electronics),用以發出待測品所需的電性訊號,並接受待測品因此訊號後所回應的電性訊號而作出產品電性測試結果的判斷。

目前能高旗下的軟體平台包含MTS2及GATE兩大系統,硬體包含PXI可程式化FPGA母板;PXI半導體測試模組;以及測試向量控制卡三大部分。

為降低使用門檻,能高已提供免費下載MTS2軟體,使用者除了可藉由簡單的操作介面,輕易設定自己所需的程式外,還有好用的Multisite功能,可以執行多顆IC並行測試,提高生產效率。

該公司表示,由於PXI儀器日益精進普及,使用者可以找到高性能PXI模組,其中自行整合系統的功能可與現有大型的IC測試機台比擬,能提供快速且準確的測試,使用者只需花費傳統設備三分之一左右的價格就可以輕鬆整合出合乎需求的IC測試系統。





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