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惠瑞捷V93000平台新增Direct-Probe解決方案

上網時間: 2010年07月05日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:V93000  測試  Direct-Probe  訊號完整性  WLCSP 

惠瑞捷(Verigy)日前為其 V93000 平台新增了 Direct-Probe 解決方案,以提升該平台的擴充性。這款針對數位、混合訊號和無線通訊積體電路 (Wireless Communication IC) 的高性能探針測試(probe test)產品在進行量產、多點針測時,可呈現出更高的訊號完整性。

新的 Direct-Probe 創新型射頻 (RF) 解決方案降低了射頻設備、高接腳數(high-pin-count)數位設備以及複雜的混合訊號設備的測試成本,使全球半導體市場能夠快速向高性能針測和晶圓級封裝 (WLCSP)轉型。

惠瑞捷表示, V93000 平台在增加 Direct-Probe 射頻解決方案後,可消除晶圓和測試機之間的傳統機構介面,從而減少了訊號路徑(signal-path)連接點的長度和數量,顯著提高了射頻設備測試的訊號完整性。

具有 Direct-Probe 射頻解決方案的 V93000 在設計時可使用適合晶圓探針和終程測試(final test)的單測試載板 (single-load board),從而縮短 IC 從開發到生產的時間,使探針和終程測試間的相關工作量降至最低,並實現強大的多點測試能力。惠瑞捷的 Direct-Probe 射頻功能提供應用使用上最大面積的元件區,使一個44000平方毫米的區域保持平滑,平面水平偏差僅為+1毫米。

此外,V93000 Direct-Probe 解決方案使整個平台能夠相容所有規格的測試機,同時 V93000可擴展架構還提供多功能全方位射頻半導體設備的測試。





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