Global Sources
電子工程專輯
 
電子工程專輯 > 測試與測量
 
 
測試與測量  

安捷倫奈米壓痕技術為薄膜材料實現基板獨立量測

上網時間: 2010年12月06日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:G200  奈米壓痕  nanoindentation  薄膜  基板 

安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)宣佈推出 Agilent G200 奈米壓痕測試儀平台專用的創新奈米壓痕(nanoindentation)技術。該新技術可讓研究人員利用奈米壓痕技術,快速、容易且對薄膜材料進行基板獨立量測。該技術適用於評估軟基板上硬待測樣品的彈性模數,或硬基板上軟樣品的彈性模數(elastic modulus)。

台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示:「我們的應用科學家針對存在已久的奈米壓痕測試挑戰,設計了一款易於作業的智慧型解決方案。該新的技術對於各領域正進行的研究工作,將產生直接的影響。」

使用奈米壓痕技術來評估薄膜材料的彈性模數時,基板的影響是很常見的問題。假如薄膜材料的厚度和基板模數是已知的,則該技術可以從受基板影響的模數量測值萃取薄膜材料的模數。該技術適用於各種薄膜基板系統。

Agilent G200 是最準確、彈性且容易使用的奈米機械測試儀器,其利用電磁啟動,在力(force)和位移(displacement)上達到無與倫比的動態範圍。 Agilent G200 符合 ISO 14577 標準,可量測楊氏模數(Young's modulus)和硬度值,並可執行涵蓋10的6次方的變形量測──從奈米到毫米。





投票數:   加入我的最愛
我來評論 - 安捷倫奈米壓痕技術為薄膜材料實現基板...
評論:  
*  您還能輸入[0]個字
*驗證碼:
 
論壇熱門主題 熱門下載
 •   將邁入40歲的你...存款多少了  •  深入電容觸控技術就從這個問題開始
 •  我有一個數位電源的專利...  •  磷酸鋰鐵電池一問
 •   關於設備商公司的工程師(廠商)薪資前景  •  計算諧振轉換器的同步整流MOSFET功耗損失
 •   Touch sensor & MEMS controller  •  針對智慧電表PLC通訊應用的線路驅動器
 •   下週 深圳 llC 2012 關於PCB免費工具的研討會  •  邏輯閘的應用


EE人生人氣排行
 
返回頁首