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巨有科技與量測儀器供應商致茂電子展開緊密合作

上網時間: 2011年03月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:巨有科技  致茂電子  合作  Chroma 3650  測試 

IC設計服務業者巨有科技(Progate Group Corporation,PGC)近日宣佈,已與國內量測儀器廠商致茂電子(Chroma ATE) 展開緊密合作;巨有科技表示,該公司已經選購致茂科技的 Chroma 3650 平台,部署以提供其消費型電子產品及其他裝置的工程測試使用。

Chroma 3650 配備完整的測試模組,如邏輯模組、ADC/DAC模組、ALPG記憶體模組、高電壓電流模組和SCAN模組,可降低產品原有的工程開發及量產測試成本。巨有選購 Chroma 3650 平台,取得了高產能及多功能的晶圓片和封裝成品測試能力,明顯提供客戶高品質及低成本優勢,適應目前對價格日益敏感的市場變動及需求。

巨有科技總經理賴志賢表示:「如何有效協助顧客解決及突破IC測試方面的技術瓶頸,成為現今IC設計廠商要面對的重要課題。巨有科技除了在設計階段導入DFT (Design for Test)、ATPG、Memory-BIST、Boundry Scan等設計工具環境之外,也持續投資全套完整的SoC晶片實體測試與驗證之設備機台。」

致茂電子業務處長張大志表示:「與巨有科技在Chroma 3650 平台上的緊密合作,證明3650有更好的價格競爭優勢及生產效能。我們承諾將持續提供優質而穩定的完整服務及產品給巨有科技及其它客戶群,以協助我們的客戶在市場上獲致更大的成功。」





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