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惠瑞捷首創可擴充測試機專為28nm及3D架構打造

上網時間: 2011年07月28日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:28nm  V93000  Smart Scale  ATE  量測 

Advantest Group 子公司惠瑞捷(Verigy)發佈半導體產業首款可擴充、具成本效益的全新 V93000 Smart Scale 測試系統與接腳量測模組,是專為如 3D 設備架構及 28nm 以上的積體電路設計量身打造。

Smart Scale 系列為創新「智慧型」測試機,採用 per-pin 架構設計,與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個接腳皆可依其時脈域測試,透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊;模擬系統壓力測試( System-Like Stress Test) 可達自動化測試設備 (ATE) 等級,增進故障覆蓋率。

四種 Smart Scale 測試機等級分別為 -A 、 C 、 S 與 L ,各有不同尺寸的測試頭, 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。惠瑞捷測試事業部副總 Hans-Juergen Wagner 表示,因測試機等級彼此相容,當積體電路生產數量因設備壽命有所調整,用戶可簡捷快速地自任一 Smart Scale 等級調整至另一等級;目前尚無其他自動測試設備廠商能夠做到這點。

新的測試方案可用於測試高階SOC、系統級封裝(SiP)與晶圓級晶片封裝(WLCSP)等。另外,隨著 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市,惠瑞捷也同時推出三款數位訊號量測模組。

全新 Pin Scale 1600 數位模組與 Pin Scale 1600-ME (模擬記憶)模組,提供產業間每個數位訊號最廣泛的效能。除此之外,數據率涵蓋 DC 至 1.6 Gbps──比上一代的機台快兩倍,同時新機台的接腳密度也較前一代多達兩到四倍。

惠瑞捷全新 Pin Scale 9G 模組也使原速測試的花費不再高不可攀,結合與 Pin Scale 1600 相同的多樣性 per-pin 可達 8 Gbps 數據率。此模組以最大限度使用接腳,並將閒置資源降到最低。 Pin Scale 9G 模組支援所有雙端與單端接腳及運作時的差分模式。可進行模式與無模式測試以處理主流測試需求,涵蓋確認設計的並行 I/O 測試,到大量生產所需的互連實體串列 (PHY)測試。





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