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惠瑞捷新一代V93000 Smart Scale降低IC測試成本

上網時間: 2011年09月08日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:Smart Scale  半導體測試  3D  V93000  ATE 

Advantest Group子公司惠瑞捷(Verigy)發佈新一代 Smart Scale 系列智慧型測試系統與數位訊號量測模組,此款可擴充且具成本效益的半導體測試機種是專為 3D 設備架構及 28 奈米以上IC設計高階半導體量身打造。

Smart Scale 系列為創新智慧型測試機,採用 per-pin 架構設計,與惠瑞捷生產驗證 V93000 平台完全相容。智慧測試主要特色為每個針腳皆可依其時脈域測試,透過確切比對該設備須測試的數據率要求達到全面的測試。其他功能包括供電調節、顫動注入及設定通訊;模擬系統壓力測試(System-Like Stress Test)可達自動化測試設備(ATE)等級,增進故障覆蓋率。

四種 Smart Scale 測試機等級分別為 ﹣A、C、S與L ,各有不同尺寸的測試頭, 惠瑞捷以最具成本效益的方案供各用戶具體運用滿足不同的需求。惠瑞捷獨特設計技術表現於平行測試與全能晶圓測試方案──測試高階晶片內建系統(SOC)設備、系統封裝(SiP)設備與晶圓級晶片封裝(WLCSP)的嚴格產能需求。

隨 V93000 智慧型可擴充等級測試機上市,惠瑞捷同時推出三款數位訊號量測模組。 Pin Scale 1600 數位模組與 Pin Scale 1600-ME (模擬記憶)模組,提供業每個數位訊號最廣泛的效能。除此之外,數據率涵蓋 DC 至 1.6 Gbps ﹣比上一代的機台快兩倍 ﹣新機台的針腳密度也較前一代多達兩到四倍。

全新高度整合、尺寸小的模組具備惠瑞捷 clock-domain-per-pin、protocol-engine-per-pin 、PRBS per pin 與 SmartLoop 等對稱高速介面專用測試功能,提供精準 DC 效能、多元件高效率非同步測試及同步測試。

惠瑞捷全新 Pin Scale 9G 模組使原速測試的花費不再高不可攀,結合與 Pin Scale 1600 相同的多樣性 per-pin 可達 8Gbps 數據率。此模組以大幅使用針腳,並將閒置資源降到最低。 Pin Scale 9G 模組支援所有雙端與單端針腳及運作時的差分模式。可進行模式與無模式測試以處理主流測試需求,涵蓋確認設計並行 I/O 測試,到大量生產所需的互連實體串列(PHY)測試。





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