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Tektronix SFP+相容性測試和除錯解決方案提升測試效能

上網時間: 2011年12月23日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:SFF 8431  SFP+  示波器  TWDPc  SFP-WDP 

Tektronix 宣佈推出一系列增強功能,擴充其 SFF 8431 SFP+ 相容性測試除錯效能,包括支援只能在示波器(如Tektronix DPO / DSA / MSO70000D 系列)上以極快速取樣率執行的 TWDPc 嚴苛量測,提高測試效能。

有了這些增強功能,Tektronix現在便能夠為以乙太網路為基礎的 SFF-8431 SFP+ 實體層測試,提供最完備的自動化和除錯解決方案。此方案包括一個新的 SFP-WDP 選項,能自動設定及執行重要的 TWDPc 量測以及主機相容電路板(HCB)和模組相容電路板(MCB)量測,以加速用於高速乙太網路及光纖通道系統連接器設計測試設定速度。

Tektronix示波器總經理Roy Siegel表示:「我們著重於 SFF 8431 SFP+ 測試,為乙太網路設計人員建置一個全方位的測試解決方案,使他們具備深入且準確的洞察力,滿足其設計驗證和除錯的需求,並節省測試時間。例如,我們增強 WDP 測試支援,透過自動執行複雜的相容性測試序列來改善測試時間,提供 DPO70000 示波器每秒100 GS取樣率的極可靠測試結果。」

SFP-TX 最新版本包括一個內建去嵌入功能。由於像 SFP + 這類與日俱增的資料傳輸率技術,視圖閉合和某些元件 (如 SMA纜線) 必須去嵌入,才能提高測試結果的準確度。有了這項新功能, SFP-TX 便能讓設計人員使用.FLT檔對訊號做去嵌入(de-embed)。

如同在 SFP + 主機發送器輸出規格(適用於銅)中所定義的,必須使用至少每秒70 GS取樣率的即時示波器進行 TWDPc 量測。使用Tektronix DSO / DSA70000 系列示波器,能提供業界領先的100 GS/s取樣率效能,達到最可靠的測試結果。

SFP-WDP、SFP-TX (第2版)及 SFP+ HCB 和 MCB 現已上市。





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