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記憶體/儲存  

以邏輯分析儀進行串列快閃記憶體量測方案

上網時間: 2012年05月23日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:邏輯分析儀  串列快閃記憶體  量測  程式  除錯 

在許多的電子產品中都有使用串列快閃記憶體(Serial/SPI Flash)的需求,它有較簡單的控制程式與電路以及可靠的儲存能力,使它倍受青睞。因此,常被用於電子產品裡放置較關鍵的開機程式(Boot code)或系統設定資料(System setting)。

每當系統啟動時,Serial Flash 就會忙碌起來,盡快的把儲存在裡面的程式或資料載入系統內。但越來越複雜的命令組合以及命令差異,使得開發與除錯工作變得更加困難。本文將會介紹使用邏輯分析儀來進行 Serial Flash 的量測工作。

早期的 Serial Flash 使用 SPI 匯流排架構,定義了 4 根與命令資料傳輸有關的腳位分別是 Chip Select (CS)、Clock (SCK) 、Data In (DI) 、Data Out (DO)。傳輸時,由 DI 將命令或資料傳入 Serial Flash,而 DO 將資料讀出。如圖一所示。一般稱之為單線模式(Single mode)。

使用者若需量測 Serial Flash 匯流排時,只需使用具有 SPI 匯流排的儀器或工具,就可以將單線模式之Serial Flash 命令/地址/資料解出。這是業界行之多年的作法。

有鑑於電子產品越來越需要大容量的儲存空間,Serial Flash 容量也順應擴大。儲存容量擴大之後衍生而來的問題是,讀取資料的時間越來越長,於是 Serial Flash 開始提高其工作頻率,藉由較高的傳輸頻率,以縮短傳輸資料的時間。

但這樣還是不夠快,因此進一步發展出現所謂雙線模式(Dual mode)如圖二,與四線模式(Quad Mode),如圖三的 Serial Flash。其匯流排傳輸的架構,已漸漸與單線模式之 SPI 架構不同,也使原有的 SPI 儀器或工具用在此類 Serial Flash 的匯流排除錯工作開始出現困難。

請下載PDF文件,以閱讀完整文章。

作者:黃培南 / 皇晶科技(ACUTE)研發部軟體技術協理





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