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NI於台北國際光電展展示LED多點測試機台

上網時間: 2012年06月21日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:NI  美商國家儀器  光電  測試  產線 

美商國家儀器(National Instruments,NI)於 2012 年台北國際光電大展,針對研發驗證到實際產線測試端的各種不同目的與需求,提出相應的解決方案;該公司在現場同時展出 LED 多點測試機台,展現 NI 產品於光電產業的高適用性。

以 LED產業為例,NI 完整的模組化儀器產品線,能幫助客戶建置客製化的測試設備,完整滿足R&D端驗證測試的需求,同時利用 PXI平台高彈性的優勢搭配 Switch 模組,以及 TestStand 高效能自動排程軟體,即可將測試功能轉移到產線進行快速生產測試。

NI重點展示的 LED多點測試機台使用業界標準量測平台──PXI,搭配多種不同 NI 模組化儀器,所設計完成的 LED 晶圓特性量測系統。能同時針對於多個 LED 進行測試,並輸出完整的測試報表,大幅降低產線上的生產時間與成本。





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