KEYENCE推出線上全檢專用投影測微計

許多現場人員都在使用雷射量測多點外徑或段差時，總需在同時移動工件下分批進行多次量測。過程中必須格外注意工件擺放的角度與位置，絲毫的偏差將直接影響測量結果。這樣的量測不但耗時費力，即使完成量測，精密度也不盡理想。若改採用投影量測雖可解決精密度的問題，但傳統投影儀卻無法on-line使用，不能滿足快速、大量的量測需求。

透過KEYENCE開發的投影測微計TM系列，可將光亮均勻、耐雜波、不傷眼的高亮度綠色 LED 光均勻照射成平行光，透過檢測 2D CMOS 上邊緣受的光明暗度，以測量尺寸與角度。

由於從「點」的測量進化到「面」的測量，無須再移動目標物，便可瞬間測量最大外徑與角度。此外，還可辨識工件姿勢，藉由自動補正以進行正確測量，不必再擔心工件位置或角度會造成量測誤差。採用僅讓平行光成像的W遠心鏡頭，即使工件與鏡頭之間的距離改變，也不改變 CMOS 上的影像大小，因此可進行高精密度測量，重複精密度達±0.15μm。

TM系列最多可同時測量16處量測區域內的測量計畫，輔以15種基本測量模式與8種輔助測量模式的自由組合，可因應外徑、段差、焦點距離、位置、座標、間距等各種尺寸測量，滿足產線上快速、多樣化的大量量測需求。