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NI PXI向量網路分析儀協助製造商降低測試成本

上網時間: 2012年12月12日     打印版  Bookmark and Share  字型大小:  

關鍵字:VNA  自動化量測  PXI Express  PXIe-5632  PXI 

NI 向量網路分析儀(VNA)提供快速的自動化量測功能,同時具備功能豐富的儀器架構,再加上簡化的測試系統開發流程,有助於減少測試成本。全新的 NI PXI Express 模組整合進階的 VNA 量測功能,提供精確 DC、高速類比與數位量測等特色,打造出完整的 PXI 架構測試系統。

NI 發表 NI PXIe-5632 VNA ,這款經過最佳化的產品可協助工程師滿足日趨複雜的 RF 測試需求,而且較傳統的機架堆疊式解決方案,必要的成本、時間、體積都有所減少。全新的 PXIe VNA 採用創新的雙源架構,頻率範圍則是 300kHz 到 8.5GHz,可獨立調整來源且具備來源存取迴路,適用於各式各樣的量測應用。

「NI 持續投資 RF 與微波儀器,將 PXI 的使用範圍拓展至高階應用」,NI 的 RF 研發副總裁 Jin Bains 說明:「NI PXIe-5632 VNA 豐富的功能組合有助於大幅降低網路量測成本,尤其是需要精確量測、高速量測與小型體積的大量自動化測試應用。」

雙埠的3槽式 PXI Express VNA 可提供 300kHz 到 8.5GHz 的頻率範圍;可以 0.01dB 為單位設定 -30dBm 到 +15dBm 的功率範圍,進而量測運作裝置的壓縮與 S 參數;雙源架構搭配來源存取迴路,適用於脈衝式 S 參數量測與更廣的來源功率範圍。

頻率偏移功能採用可獨立調整的來源,以便量測頻率轉移裝置與最新的 S 參數;先進的程式設計介面,適用於 NI LabVIEW、ANSI C、.NET,簡化設計流程之餘,還可以加速測試開發速度,確保 RF 量測的品質。





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